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產(chǎn)品型號
品 牌艾思荔/Asli
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地東莞市
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更新時間:2017-04-12 04:25:34瀏覽次數(shù):259次
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艾思荔非飽和高壓加速老化箱()半導體的測試:主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應(yīng)、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關(guān)問題。
非飽和高壓加速老化箱的詳細信息:
一.選型示意:
◇R-HAST–350-2
◇R:瑞凱標志
◇:高壓加速
◇350:內(nèi)容積¢×D)
◇2:壓力范圍
◇2:+0.5—2kg/cm2
◇3:+0.5—3kg/cm2
二.產(chǎn)品規(guī)格(mm):
◇型號:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000
◇型號:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100
◇型號:HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150
◇型號:HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250
三.產(chǎn)品簡單介紹:
◇高壓鍋,高壓加速壽命試驗機,高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗機,加速老化
◇壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過程,
◇縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
針對JESD22-A102的試驗說明:
用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。
樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進入封裝體內(nèi),出封裝中的弱點,如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計的更新。
應(yīng)該注意,在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時,可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。
外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會造成離子遷移不正常生長,而導致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。
濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護層針孔、裂傷、被覆不良處..等,進入半導體原件里面,造成腐蝕以及漏電流..等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
◆技術(shù)優(yōu)勢:
◇采用全自動補充水位之功能,試驗*中斷.
◇試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
◇干燥設(shè)計,試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,確保穩(wěn)定性。
◇精準的壓力/溫度對照顯示,*符合溫濕度壓力對照表要求。
艾思荔的主營產(chǎn)品有:高壓加速老化試驗機,HAST高度加速壽命試驗機,可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復(fù)合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備以及制程設(shè)備,有數(shù)十個系列近百種產(chǎn)品。
JEDEGJESD22—A、102—B、濕度試驗:
說明:試驗機執(zhí)行JEDECJESD22-A102-B飽和濕度(121℃/R.H.)的實際試驗紀錄曲線,試驗機是目前業(yè)界機臺標準內(nèi)建數(shù)字電子紀錄器的設(shè)備,可完整紀錄整個試驗過程的溫度、濕度、壓力,尤其是壓力的部分是真正讀取壓力傳感器的讀值來顯示,而不是透過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
PCB的試驗案例:說明:PCB板材經(jīng)試驗(121℃/R.H./168h)之后,因PCB的絕緣綠漆質(zhì)量不良而發(fā)生濕氣滲透到銅箔線路表面,而讓銅箔線路產(chǎn)生發(fā)黑現(xiàn)象。
非飽和高壓加速老化箱滿足標準:
1.IEC60068-2-66
2.JESD22-A102-B
3.EIAJED4701
4.EIA/JESD22
5.GB/T2423.40-1997
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