高低溫低氣壓試驗箱設(shè)備用途：

    高低溫低氣壓試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求.cjsyt.com，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

高低溫低氣壓試驗箱技術(shù)參數(shù)：

波動度：±0.5℃ 

均勻度：±2℃ 

升溫速率：3.0℃/min   ( 可按客戶要求定做) 

降溫速率：0.7～1℃/min    (可按客戶要求定做) 

外箱材料：冷軋板靜電噴塑/SUS304不銹鋼（任選一種） 

內(nèi)箱材料：SUS304不銹鋼板 

保溫材料：超細玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡 

箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅膠密封條 

高低溫低氣壓試驗箱溫度范圍 

A型: 0℃～ 100℃( 150℃)

B型: -20℃～ 100℃( 150℃)

C型: -40℃～ 100℃( 150℃)

D型: -70℃～ 100℃( 150℃)  

高低溫低氣壓試驗箱設(shè)備符合標準：

GB 10589 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則