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廣東艾思荔檢測儀器有限公司
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高低溫交變測試儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號thr

品       牌艾思荔/Asli

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地東莞市

聯(lián)系方式:陳小姐查看聯(lián)系方式

更新時間:2017-06-12 09:06:44瀏覽次數(shù):285次

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高低溫循環(huán)試驗箱介紹:

  高低溫循環(huán)試驗箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備;適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗;特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

高低溫循環(huán)試驗箱介紹:

  高低溫循環(huán)試驗箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備;適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗;特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。  

  高低溫循環(huán)試驗箱技術(shù)參數(shù):

  設(shè)備型號:HL-80

  溫度范圍:-70℃~+100℃

  溫度偏差:≤±2.0℃

  溫度波動度:≤±0.5℃

  升溫時間:2~3℃/min(設(shè)備空載時)

  降溫時間:0.7~1℃/min(設(shè)備空載時)

  工作室尺寸(深×寬×高):400*400*500mm

  外型尺寸(深×寬×高):950*950*1360mm

高低溫循環(huán)試驗箱符合標準:

  低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10589-2006

  高低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10592-2006

  高溫試驗箱技術(shù)條件:GB11158-2006

  低溫試驗方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

  高溫試驗方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

  高低溫交變試驗(僅濕熱型):GB/T2423.4-1993

  高溫試驗方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

  低溫試驗方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備:GB/T5170.2-1996

高低溫交變濕熱實驗室服務(wù)條款:  

1.安裝、調(diào)試:艾思荔公司工程師可在買方準備好設(shè)備所需外部條件(如水、電等)后,負責(zé)該設(shè)備的安裝、調(diào)試、啟動工作,并提供良好的和售后服務(wù),同時對使用人員進行設(shè)備現(xiàn)場培訓(xùn),保證受訓(xùn)人員能夠獨立、熟練操作設(shè)備和完成簡單的維修工作、設(shè)備日常維護等工作。  

2.保修:設(shè)備的保修期為一年,正式生效日期為買方在該設(shè)備的驗收合格書上簽字之日起計算。在保修期內(nèi),賣方負責(zé)該設(shè)備由于設(shè)備自身原因而引起的各種故障問題并負責(zé)無償解決。在保修期外,該設(shè)備的維修工作要收取備品備件的成本費用和一定的服務(wù)費用。  

3.維修:維修反應(yīng)時間為:24小時內(nèi)響應(yīng)賣方在接到買方的故障通知后,保證在24小時內(nèi)做出響應(yīng),并爭取在短的時間內(nèi)盡快排除故障。  

4.終身服務(wù)項目:賣方承諾在該設(shè)備的使用期間,可無償、無限期地提供該設(shè)備的工作。

×h? &2Po Hcm :400*400*500mm

 

  外型尺寸(深×寬×高):950*950*1360mm

高低溫循環(huán)試驗箱符合標準:

  低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10589-2006

  高低溫試驗箱技術(shù)條件:GB10592-2006

  高溫試驗箱技術(shù)條件:GB11158-2006

  低溫試驗方法A:GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)

  高溫試驗方法B:GB2423.2-2001(IEC68-2-2)

  高低溫交變試驗(僅濕熱型):GB/T2423.4-1993

  高溫試驗方法:GJBl50.3-86(MIL-STD-810D)

  低溫試驗方法:GJBl50.4-86(MIL-STD-810D)

  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備:GB/T5170.2-1996

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