標(biāo)簽：（1）高低溫沖擊試驗(yàn)箱（2）高低溫試驗(yàn)箱（3）LED冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)（4）模塊恒溫恒濕試驗(yàn)箱

高低溫試驗(yàn)箱的用途性能
　　歐盟ErP指令
　　IEC/PAS62612大于50V的通用照明自鎮(zhèn)流LED燈-性能要求
　　IEC62384LED模塊用交流或直流電子控制裝置-性能要求
　　CIE84-1989光通量的測(cè)量
　　CIE13.3-1995顯色性的測(cè)量
　　LM-16相關(guān)色溫
　　LM-58顯色指數(shù)和CCT
高低溫試驗(yàn)箱的用途標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)狀
　　從八十年代初起，我國(guó)相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關(guān)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)。國(guó)內(nèi)現(xiàn)有與LED測(cè)試有關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)有：
　　（1）Sj2353.3-83半導(dǎo)體發(fā)光二極管測(cè)試方法
　　（2）Sj2658－86半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測(cè)試方法
　　（3）GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范
　　（4）GB/T15651－1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件（標(biāo)準(zhǔn)）
　　（5）GB/T18904.3—2002半導(dǎo)體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）
　　（6）半導(dǎo)體分立器件和集成電路5－2部分：光電子器件基本額定值和特性（標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）
　　（7）半導(dǎo)體分立器件和集成電路5－3部分：光電子器件測(cè)試方法（標(biāo)準(zhǔn)；制訂中）
　　（8）半導(dǎo)體發(fā)光二極管測(cè)試方法（中國(guó)光協(xié)光電器件分會(huì)標(biāo)準(zhǔn)；2002）www.asli163.com
照明產(chǎn)品涉及：LED燈泡、LED雙端燈管以及各類LED燈具等，例如應(yīng)急燈具、普通固定式燈具、便攜式燈具、道路街道照明燈具、投光燈具、水族箱燈具、夜燈、燈串、舞臺(tái)照明、游泳池照明,等等。不僅涉及LED整燈，也涉及LED模塊以及驅(qū)動(dòng)電源等。

適用范圍:

產(chǎn)品廣泛用于科研﹑﹑軍事﹑電工﹑電子﹑玩具、塑料、五金、電池、手機(jī)、光電、LED、等產(chǎn)業(yè)界零配件的各種行業(yè)。公司本著的人才、技術(shù)、資金為科研、電工、電子、軍事、、通信、汽車、筆記本電腦等企事業(yè)單位提供符合GB、GJB、IEC、MIL、DIN等標(biāo)準(zhǔn)的各類環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。

※目的：加速應(yīng)力試驗(yàn) 加速壽命試驗(yàn) 環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)（ESS） 

※試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：MIL-STD-202 Method 107 IEC60749-25 JEDEC JESD22-A104-b IEC68-2-1 MIL-STD-2164-85 

※試驗(yàn)方法：溫度沖擊試驗(yàn) 溫度循環(huán)試驗(yàn)

※試驗(yàn)環(huán)境：比使用環(huán)境更嚴(yán)酷 極限使用環(huán)境

※試樣：零部件 元器件，焊點(diǎn)（BGA，CSP） 成品 

※試樣尺寸：小  比較大 

※試驗(yàn)溫度范圍：-40（-55）～125（150）℃、 -40（-65）～125（150）℃、 -40（-0）～100℃ 

※工作室尺寸：內(nèi)箱尺寸W×H×D 600×850×800cm             

※外箱尺寸W×H×D 1200×1700×1300 cm

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