當(dāng)前位置:艾思荔模擬仿真測試設(shè)備>>HAST非飽和試驗箱>>hast老化箱>> 電能表高壓加速老化試驗機(jī)用途 重慶高壓加速老化試驗機(jī)廠家
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廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地東莞市
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更新時間:2021-03-26 16:40:55瀏覽次數(shù):516次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)電能表高壓加速老化試驗機(jī)用途針對JESD22-A102的PCT試驗說明:
電能表高壓加速老化試驗機(jī)用途 www.uvlhsyx.com 用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。
樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),出封裝中的弱點,如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計的更新。
應(yīng)該注意,在電能表高壓加速老化試驗機(jī)用途試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時,可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。
外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會造成離子遷移不正常生長,而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。
濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護(hù)層針孔、裂傷、被覆不良處..等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,造成腐蝕以及漏電流..等問題,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
電能表高壓加速老化試驗機(jī)用途 www.aslitest.com JEDEGJESD22—A、102—B、PCT濕度試驗:
說明:PCT試驗機(jī)執(zhí)行JEDECJESD22-A102-B飽和濕度(121℃/R.H.)的實際試驗紀(jì)錄曲線,PCT試驗機(jī)是目前業(yè)界機(jī)臺標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)建數(shù)字電子紀(jì)錄器的設(shè)備,可完整紀(jì)錄整個試驗過程的溫度、濕度、壓力,尤其是壓力的部分是真正讀取壓力傳感器的讀值來顯示,而不是透過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
PCB的PCT試驗案例:說明:PCB板材經(jīng)PCT試驗(121℃/R.H./168h)之后,因PCB的絕緣綠漆質(zhì)量不良而發(fā)生濕氣滲透到銅箔線路表面,而讓銅箔線路產(chǎn)生發(fā)黑現(xiàn)象。
電能表高壓加速老化試驗機(jī)用途滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.IEC60068-2-66
2.JESD22-A102-B
3.EIAJED4701
4.EIA/JESD22
5.GB/T2423.40-1997
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