LED可程式高低溫試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
　GJB150.4-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》
　　MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
　　GJB367.2-87《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件》
　　GJB4.3-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫試驗(yàn)》
　　GJB4.4-83《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)低溫貯存試驗(yàn)》
　　GJB367A-2001《軍用通信設(shè)備通用規(guī)范》4.7.27低溫試驗(yàn)
　　GB/T2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫》
　　SJ/T10325-92《汽車收放機(jī)環(huán)境試驗(yàn)要求和試驗(yàn)方法》4.4低溫負(fù)荷試驗(yàn)
　　SJ/T10325-92《汽車收放》

LED可程式高低溫試驗(yàn)箱 www.uvlhsyx.com 產(chǎn)品說(shuō)明: 
1、高低溫試驗(yàn)箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。 
LED可程式高低溫試驗(yàn)箱型號(hào)規(guī)格: 
1.型號(hào):TH-80 
內(nèi)箱尺寸:(寬*高*深mm)400×500×400 
2.型號(hào):TH-150 
內(nèi)箱尺寸:(寬*高*深mm)500×600×500 
外箱尺寸:(寬*高*深mm)1070×1450×1070 
3.型號(hào):TH-225 
內(nèi)箱尺寸:(寬*高*深mm)500×750×600 
外箱尺寸:(寬*高*深mm)1070×1610×1180
LED可程式高低溫試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：
1.高溫區(qū)溫度范圍：+60℃— +200℃
2.預(yù)熱上限：200℃
3.升溫時(shí)間：室溫—+200℃，≤60min
4.低溫區(qū)溫度調(diào)節(jié)范圍：-70℃— -10℃
5.降溫時(shí)間：室溫—-70℃，≤60min

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