半導體粉末電阻率測試臺/粉末電阻率測定儀 型號： SZT-D

本測試臺參照有關標準進行設計，可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬粉末進行電阻、電阻率多用途的測量。  
    組成及特點：測試臺為探頭、加壓機構(gòu)、粉末標準容器、壓力檢測、厚度檢測等單元組成。壓力機構(gòu)采用手動操作，壓力平穩(wěn)可調(diào)，電子數(shù)碼顯示壓力值。本儀器可一邊加壓同步測試，可方便測試不同壓力下粉末的導電性能曲線，也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用，成片后可脫模取出，用普通四探針法測試相關參數(shù)！本儀器具有測量精度高，操作簡便、穩(wěn)定性好，重復性好，一機多用使用方便等特點。  
    本儀器采用通用的電流、電壓四端子測量法（兩個電流和電壓電同時和樣品接觸），可以消除電與導線導通電阻產(chǎn)生的誤差，克服了傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。測試參數(shù)時同步檢測壓力和高度，也是區(qū)別于以往舊款同類測試臺新特點！便于研究材料的特性曲線！  
   本儀器于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)和粉態(tài)樣品質(zhì)量的一種重要優(yōu)良工具。  
主要技術指標：  
注測量范圍由配置的主機確定，以配ST2258A數(shù)字式四探針測試儀為例：  
1、測量范圍：   
電阻率：    10-4～200X103Ω-cm  
方塊電阻：  10-3～200X 104Ω/□  
電   阻：    10-4～200X104Ω  
測量誤差±（0.3%讀數(shù)+2字）  
2、測量電壓量程： 200 mV   
   測量精度±（0.3%讀數(shù)+2字）  
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。  
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA, 1000mA  
⑶誤差：±0.5%讀數(shù)±2 字  
4、 顯示方式3 1/2數(shù)量字顯示電阻、電阻率, 單位、小數(shù)點自動顯示。  
5、 電源：220±10% 50HZ-60HZ功率消耗<15W消耗  
6、 主機  240mm（長）×180 mm（寬）×80mm（高）