用途：
適用于磨料、涂料、非金屬礦、化學(xué)試劑、填料等各種粉末顆粒的粒度測量、形貌觀察和分析，能給出不同等效原理（如等面積圓、等效短徑等）的粒度分布，能直接觀察顆粒分散狀況、粉體樣品的大致粒度范圍、是否存在低含量的大顆?；蛐☆w粒情況等等。
輸出項目：
粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中位徑、邊界粒徑、比表面積、長短徑比統(tǒng)計、PPC等
技術(shù)指標(biāo)：

測試范圍：0.5-3000μm
重復(fù)性誤差：<3%
光學(xué)大放大倍數(shù)：1800倍
成像元件：Progress scan CMOS
高分辨率：2048x1536
輸出方式：USB2.0