簡介
MK22-ZWL-3938測試系統(tǒng)主體為測試機,采用*的快速光譜分析系統(tǒng),針對多晶貼片進行分光分色的測試,能夠*配合機械結(jié)構(gòu)進行高效自動化測試,不僅能精確的測試單晶LED或多晶LED中各個芯片的光色電參數(shù)，同時通過設(shè)置正向電壓、光通量、波長、色溫、X,Y坐標等參數(shù)對LED進行自動分檔篩選。
規(guī)格參數(shù)
1.光通量：0～300lm/200lm（0.3m/0.2m） 精度：3%
2.峰波長：（λp）380～780nm; 精度：±0.3nm
3.主波長：（λd）380～780nm; 精度：±0.3nm
4.測量色坐標（X、Y）； 精度：±0.0015
5.測量色溫（Tc）：1300K-25000K
6.可依據(jù)峰波長（λp）、顏色圖坐標（x,y,z）、主波長（λd）、正向電壓（VF）、色溫（Tc）等參數(shù)作為分選依據(jù)，用戶可自由組合分BIN，滿足分光分色需要；并可將測試結(jié)果分類，包括不良品、接觸不良類等；
7.測試條件及分選條件、范圍由上位機鍵盤輸入，測試
結(jié)果在PC屏幕上顯示并存檔；
8.可測量小電流VF在用大電流加熱并測量電流VF并比較
之間的差值；
9.可至少測兩個電流值下的色溫、光功率