北京東方中科集成科技股份有限公司
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更新時間:2024-02-24 11:57:35瀏覽次數(shù):91次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)光斑面積為 200 mm x 200 mm,全自動無主柵太陽能電池功率測試,可依據(jù)客戶產(chǎn)線流程,客制產(chǎn)線自動化機(jī)臺上下料或分選機(jī),并配備 10~1000 ms 脈沖寬度太陽光模擬器,高適用性可兼容各類高效電池,為企業(yè)大幅提升太陽能電池檢測效率。
項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
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SS-X200i產(chǎn)線用太陽光模擬器 | a. A+AA+ 氙燈模擬器 b. 光譜匹配度:AM1.5 G,(0.75-1.25),A+ 級 (JIS / IEC / ASTM) c. 輻射空間均勻性:< 1.5%,a="" 級="" (jis="" iec=""> d. 時間不穩(wěn)定性:< 1%,a+="" 級="" (jis="" iec=""> e. 有效光斑面積:200 mm x 200 mm f. 脈沖寬度:10ms ~ 1,000 ms g. 燈泡壽命:> 1,500,000 片(在 1,000 ms 脈沖寬度) h. 輸出產(chǎn)能: 7200 w/h (在 150 ms 脈沖寬度) i. 最小單次測量時間:0.5 sec (在 150 ms 脈沖寬度) j. 多級 IV 曲線測試 < 700="" ms="" (低于="" 5="" 級="" 從="" 100="" 到="" 1000="">2 ,在 100 ms 脈沖寬度) k. 輻照度范圍: 100~1200 W/m2 l. 主動回饋輻照控制 m. 手動照度調(diào)節(jié)器(狹縫) |
IVCT IV 曲線測試儀 | a. 同步 16 位多信道測試電壓、電流、輻照度和溫度 b. 測量分辨率:< 0.004%=""> c. 測量精度:電流和電壓 < 0.05%="" fsr=""> d. 電壓測量范圍:± 20V / ± 10V / ± 5V / ± 2.5V / ± 1.25V e. 電流測量范圍:± 16A/ ± 8A/ ± 4A / ± 2A / ± 1A f. 短路電流測試不重復(fù)性 ? 0.1% (STD) g. 開路電壓測試不重復(fù)性 ? 0.1% (STD) |
IVCS IV曲線軟件和工裝 | a. 測試參數(shù):Isc, Voc, Ipm, Vpm, Pmax, FF, Eff, Rs b. Isc?Voc, Voc?Isc 兩種掃描方式 c. 輸出曲線:IV 曲線、Pm 曲線 d. 溫度校正 (基 IEC 60891) e. 輻照度校正 (自動和同步) f. 輻照度補(bǔ)償功能 g. 具備 PLC 及 MES 接口 h. 3BB、4BB、5BB、6BB 工裝 1 套 |
水電氣需求 | a. 項(xiàng)目為單向 220v 50/60 HZ b. 所需功率為 3KVA c. 所需電流為 20A |
占空間尺寸 | a. Offline type: W1200 x D1300 x H1750 mm b. Inline typz:
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選件型號 | 選件項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
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ELI-IGS | EL超高速模塊 (?7200 w/h) | a. 影像芯片對Si發(fā)光具備高感亮度,QE > 70% @ 1100 nm b. 對 PERC 電池影像擷取時間可以< 50=""> c. 影像速率可以達(dá)到 100 Hz (frame rate) d.主動式 TE 制冷降噪 e.電源供應(yīng) 10V / 20A f. 可支持產(chǎn)率:7200 W/h g. 標(biāo)準(zhǔn)配置 ELI-Defect 軟件 |
ELI-S | EL高速模塊(?1400 w/h) | a. 近紅外光增強(qiáng)芯片 b. 有效像素解析 ? 200萬 c. 曝光時間: 0.5 ~ 10 sec(可調(diào)) d. 電源供應(yīng) 10V / 20A e. 標(biāo)準(zhǔn)配置 ELI-Defect 軟件 |
ELI-Defect | ELI-Defect Software | a. 單晶電池片準(zhǔn)確缺陷自動辨識系統(tǒng) b. 分選類別:OK、斷柵、黑心、黑邊、隱裂、其他(可自由設(shè)定) c. 圖像處理功能 d. 缺陷統(tǒng)計(jì)功能 |
ELI-AI | ELI-AI Software | a. 采用人工智能-深度學(xué)習(xí)算法進(jìn)行缺陷辨識與分類 b. 單晶電池片、多晶電池片準(zhǔn)確缺陷自動辨識系統(tǒng) c. 軟件自學(xué)習(xí)、建模能力 d. 圖像處理功能 e. 缺陷統(tǒng)計(jì)功能 |
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