北京東方中科集成科技股份有限公司
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| 參 考 價 | 面議 |
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更新時間：2024-03-01 12:31:34瀏覽次數(shù)：194次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)Thermo Scientific™ Evolution™ 350 紫外-可見分光光度計專為追求更高性能的實驗室而設(shè)計，其雙光束光學設(shè)計為高級應用提供精確度和高度可靠性。從樣本到最終結(jié)果報告，直觀的軟件可以快速指導您完成每個分析步驟。適于數(shù)據(jù)收集、處理和報告的綜合工具可提供定量分析，掃描
| 貨號 | 產(chǎn)品規(guī)格 | 描述 | 燈 |
|---|---|---|---|
| 840-310800 | - | Evolution 350 分光光度計 | >閃爍氙燈 標準使用壽命：>5 年。如果不使用實時信號壽命更久。 保修期：3 年原廠替換件保修 |
| 912A0959 | - | 配有汞燈的Evolution 350 紫外-可見分光光度計 | 閃爍氙燈 標準使用壽命： >5 年。如果不使用實時信號壽命更久。 保修期：3 年原廠替換件保修 低壓汞蒸氣燈 進行性能驗證(PV)測試時使用，用以保證波長精確度和光譜帶寬。 |
| 產(chǎn)品規(guī)格 | - |
|---|---|
| 基線平坦度 | ±0.0015 A (200?800 nm) 2.0 nm SBW，平滑 |
| 描述 | Evolution 350 分光光度計 |
| 檢測器類型 | 雙極硅光電二極管 |
| Dimensions (L x W x H) | 53 x 61 x 38 cm / 20.8 x 24 x 14.9 in. |
| 漂移 | <0.0005 abs/h，500="" nm，2.0="" nm="" sbw,="" 2="" hr=""> |
| Electrical Requirements | 100?240 V, 50?60 Hz |
| 適用于（應用） | 學術(shù)，化工，食品和飲料，環(huán)境化學，工業(yè)質(zhì)量保證/質(zhì)量控制，材料科學，制藥 |
| 燈 | 閃爍氙燈 保修期：3 年原廠替換件保修標準使用壽命：>5 年。如果不使用實時信號壽命更久。 |
| 噪聲 | 光度 0A: <0.00018> 1A: <0.00022> 2A: <0.00050> 500 nm, 2.0 nm SBW, RMS |
| 光學設(shè)計 | 改良 Ebert；樣品和參考培養(yǎng)皿/附件位置雙光束 |
| Pharmacopoeia Compliance Testing | 波長精度： ±0.3 nm 190?900 nm 波長重復性： SD 10 meas.<0.1> 吸光度準確度：<±0.010a @="" 1a,=""><±0.010a @=""> 吸光度可重復性±0.0025A @ 1A 雜散光：198 nm，KCl>2A；220 nm，NaI >3A；300 nm，丙酮 >3A；340 nm，NaNO2 >3A波峰/波谷比 >1.8 @ 1 nm SBW 設(shè)置 |
| Photometric Accuracy Instrument | 1A: ±0.004 A 2A: ±0.004 A 3A: ±0.006 A 采用可追溯 NIST 的中性密度濾光片在 546 nm 處測得。測試儀器性能時，用于合格/不合格判定的規(guī)格為此處列出的儀器規(guī)格，以及校準證書中列出的濾光片校準數(shù)據(jù)不確定數(shù)值之和。 |
| Photometric Display | ±6 A |
| Photometric Range | >4 A |
| Photometric Repeatability | 1A: ±0.0025 A |
| Scan Ordinate Modes | 吸光度，% 透射率，% 折射率，Kubelka-Munk， Log(1/R)，Log（吸光度），ABS × 因子，強度，第 1?4 衍射率 |
| 光譜帶寬 | 可選擇 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm |
| 雜散光 | 198 nm: 2.4 A KCl 220 nm: 3.5 A NaI 340 nm: 4.0 A NaNO2 |
| 波長精度 | ±0.20 nm（546.11 nm Hg 發(fā)射光線），±0.30 nm 190?900 nm |
| Wavelength Data Interval | 10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05 nm |
| 波長范圍 | 190?1100 nm |
| 波長重復性 | 10 次測量值 <0.05 nm=""> |
| 波長掃描速度 | 可變，最多 6000 nm/分鐘 |
| 重量（英制） | 48.5 磅 |
| 重量（公制） | 22 kg |
| Beam Center Height | 8.5 mm |
| 產(chǎn)品規(guī)格 | - |
|---|---|
| 應用 | 學術(shù)，化工，食品和飲料，環(huán)境化學，工業(yè)質(zhì)量保證/質(zhì)量控制，材料科學，制藥 |
| 基線平坦度 | ±0.0015 A (200?800 nm) 2.0 nm SBW，光滑 |
| 描述 | 配有汞燈的Evolution 350 紫外-可見分光光度計 |
| 檢測器類型 | 雙極硅光電二極管 |
| Dimensions (L x W x H) | 53 x 61 x 38 cm / 20.8 x 24 x 14.9 in. |
| 漂移 | <0.0005 abs/h，500="" nm，2.0="" nm="" sbw,="" 2="" hr=""> |
| Electrical Requirements | 100?240 V, 50?60 Hz |
| 燈 | 閃爍氙燈 標準使用壽命： >5 年。如果不使用實時信號壽命更久。 保修期：3 年原廠替換件保修 低壓汞蒸氣燈 進行性能驗證(PV)測試時使用，用以保證波長精確度和光譜帶寬。 |
| 噪聲 | 測光 0A: <0.00018> 1A: <0.00022> 2A: <0.00050> 500 nm, 2.0 nm SBW, RMS |
| 光學設(shè)計 | 改良 Ebert；樣品和參考培養(yǎng)皿/附件位置雙光束 |
| Pharmacopoeia Compliance Testing | 波長精度：±0.3 nm 190?900 nm 波長重復性：SD 10 meas.<0.1> 吸光度準確度：<±0.010a @="" 1a,=""><±0.010a @=""> 吸光度可重復性±0.0025A @ 1A 雜散光：198 nm，KCl >2A；220 nm，NaI >3A；300 nm，丙酮 >3A；340 nm，NaNO2 >3A 分辨率：波峰/波谷比 >1.8 @ 1 nm SBW 設(shè)置 |
| Photometric Accuracy Instrument | 1A: ±0.004 A 2A: ±0.004 A 3A: ±0.006 A 采用可追溯 NIST 的中性密度濾光片在 546 nm 處測得。測試儀器性能時，用于合格/不合格判定的規(guī)格為此處列出的儀器規(guī)格，以及校準證書中列出的濾光片校準數(shù)據(jù)不確定數(shù)值之和。 |
| Photometric Display | ±6 A |
| Photometric Range | >4 A |
| Photometric Repeatability | 1A: ±0.0025 A |
| Scan Ordinate Modes | 吸光度，% 透射率，% 反射率，Kubelka-Munk，Log(1/R)，Log（吸光度），ABS × 因子，強度，第 1-4 衍射率 |
| 光譜帶寬 | 可選擇 0.5、1.0、1.5、2.0、4.0 nm |
| 雜散光 | 198 nm: 2.4 A KCl 220 nm: 3.5 A NaI 340 nm: 4.0 A NaNO2 |
| 波長精度 | ±0.20 nm（546.11 nm Hg 發(fā)射光線），±0.30 nm 190?900 nm |
| Wavelength Data Interval | 10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05 nm |
| 波長范圍 | 190?1100 nm |
| 波長重復性 | 10 次測量值 <0.05 nm=""> |
| 波長掃描速度 | 可變，最多 6000 nm/分鐘 |
| 重量（英制） | 48.5 lbs |
| 重量（公制） | 22 kg |
| Beam Center Height | 8.5 mm |
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