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變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀揚(yáng)州

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更新時(shí)間:2015-11-13 16:12:57瀏覽次數(shù):91次

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變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀操作簡(jiǎn)便;電源采用大功率開(kāi)關(guān)電源,輸出45Hz和55Hz純正弦波,自動(dòng)加壓,可提供高10千伏的電壓;自動(dòng)濾除50Hz干擾,適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀別稱:

介損測(cè)試儀、抗干擾介損測(cè)試儀、全自動(dòng)介損測(cè)試儀、異頻介損測(cè)試儀、異頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀、抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀、全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀參數(shù):

使用條件 -5℃∽40℃ RH80%

電 源 AC 220V±10% 頻率無(wú)限制

高壓輸出 1KV∽10KV 每隔1kV

精 度 5%

大電流 140mA

容 量 1000VA

自激電源 AC 0V∽30V 45HZ/55HZ

大電流 15A

分 辨 率 tgδ:0.001% Cx: 0.1pF

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn):

1、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用復(fù)數(shù)電流法,測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高,便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。
2、儀器采用了變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾,即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。
3、儀器采用大屏幕液晶顯示器,測(cè)試過(guò)程通過(guò)漢字菜單提示既直觀又便于操作。
4、儀器操作簡(jiǎn)便,測(cè)量過(guò)程由微處理器控制,只要選擇好合適的測(cè)量方式,數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。
5、一體化機(jī)型,內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源,便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,減少現(xiàn)場(chǎng)接線。
6、儀器測(cè)量準(zhǔn)確度高,可滿足油介損測(cè)量要求,因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯,和測(cè)試線即可實(shí)現(xiàn)油介損測(cè)量。
7、設(shè)CVT測(cè)試功能,可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試,無(wú)需外置附件,一次測(cè)量C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。
8、反接線測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。
9、具有反接線低壓屏蔽功能,在220kVCVT 母線接地情況下,對(duì)C11 可進(jìn)行不拆線10kV 反接線介損測(cè)量
10、具有測(cè)量高電壓介損功能,能夠使用高壓變壓器或串聯(lián)諧振進(jìn)行超過(guò)10kV電壓的介損試驗(yàn)。
11、過(guò)流保護(hù)功能,在試品短路或擊穿時(shí)儀器不受損壞。
12、接地保護(hù)功能,當(dāng)儀器不接地線或接地不良時(shí),儀器不進(jìn)入正常程序,不輸出高壓。
13、變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀觸電保護(hù)功能,當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候,儀器會(huì)立即切斷高壓,保障試驗(yàn)人員的安全.

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀工作原理:

在交流電壓作用下,電介質(zhì)要消耗部分電能,這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ,ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路(Cn)和一被試回路(Cx),如圖1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成,被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

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