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四探針探頭 探頭GSZ-HP-501的說明書

時(shí)間:2016/11/22閱讀:374
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四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
 

四探針探頭   探頭             型號(hào):GSZ-HP-501


 

 

 

 

 

四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

 

◆ 特性及規(guī)格
 

1

 特制之手握式探筆

2

 球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷

3

 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞

4

 探頭使用壽命長

5

 探針間距:1mmm、1.59mm、3.8m;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

型號(hào)
(Model)

曲率半徑
(Radius)

壓力
(loads)

探針間距
(spacing)

探針排列
(Arrangement)

GSZ-HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直線

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