深圳市圖為儀器設備有限公司
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技術指標：溫度測試范圍：a、高溫：60℃～200℃；b、低溫：－10℃ ～ －70℃；解析精度：1.溫度：0.1℃。 控制精度：±2℃。溫度波動度：±2℃。 溫度均勻度：±3℃。（空載測試）蓄熱區(qū)升溫時間：自常溫至200℃,約40分鐘。蓄冷區(qū)降溫時間：自常溫至-70℃,約60分鐘；測試區(qū)溫度恢復時間：二溫區(qū)沖擊 5KG IC負載約2分鐘；機器結構與材質：結構：分為高溫......
技術指標：
溫度測試范圍：a、高溫：60℃～200℃；b、低溫：－10℃ ～ －70℃；
解析精度：1.溫度：0.1℃。
控制精度：±2℃。
溫度波動度：±2℃。
溫度均勻度：±3℃。（空載測試）
蓄熱區(qū)升溫時間：自常溫至200℃,約40分鐘。
蓄冷區(qū)降溫時間：自常溫至-70℃,約60分鐘；
測試區(qū)溫度恢復時間：二溫區(qū)沖擊 5KG IC負載約2分鐘；
機器結構與材質：
結構：分為高溫區(qū)、低溫區(qū)；
內外箱材質：SUS#304耐熱耐寒不銹鋼板；
測試區(qū)尺寸：50㎝× 50㎝× 60㎝(W×H×D)；
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