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中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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材料測(cè)試儀
計(jì)量測(cè)控儀器
材料制樣設(shè)備
校準(zhǔn)裝置
封裝機(jī)
萬(wàn)用表
進(jìn)口設(shè)備
高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)
材料電學(xué)高溫測(cè)試設(shè)備
材料電學(xué)性能測(cè)試儀
材料熱學(xué)性能測(cè)試儀
材料電磁學(xué)性能測(cè)試儀
航空航天測(cè)試裝置
材料高溫力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
材料樣品高低溫平臺(tái)
材料電化學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備
自動(dòng)化實(shí)驗(yàn)設(shè)備
柔性電子材料測(cè)試儀
納米材料設(shè)備
先進(jìn)材料測(cè)試儀器
半導(dǎo)體材料設(shè)備
新能源及儲(chǔ)能

JKTD-1000型鐵電材料特性測(cè)試系統(tǒng)

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JKTD-1000鐵電材料特性測(cè)試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:電滯回線,蝴蝶曲線,疲勞,脈沖



1.系統(tǒng)簡(jiǎn)介:

鐵電體具有介電壓電、熱釋電、鐵電性質(zhì)以及與之相關(guān)的電致伸縮性質(zhì)非線性光學(xué)性質(zhì)、電光性質(zhì)、聲光性質(zhì)、光折變性質(zhì)、鐵電記憶存儲(chǔ)性能等等,都與其電極化性質(zhì)相關(guān),特別是電介質(zhì)的熱釋電與鐵電性質(zhì)都與其白發(fā)極化相關(guān),由于鐵電體具有上述性質(zhì),因而在諸多高技術(shù)中有著很重要的應(yīng)用利用其壓電性能可制作電聲換能器,用于超聲波探測(cè),聲納,穩(wěn)頻振諧器,聲表面波器件等;利用其熱釋電性質(zhì)可制作紅外探測(cè)器,紅外監(jiān)視器,熱成像系統(tǒng)等利用線性光學(xué)效應(yīng)可制作激光倍頻、三倍額和頻;差頻器:利用電光性可制作激光電光開(kāi)關(guān),光偏轉(zhuǎn)器,光調(diào)器等:利用聲光效應(yīng)可制作激光聲光開(kāi)關(guān),聲光偏轉(zhuǎn)器、聲光調(diào)制器等:利用光折變效應(yīng)可制作光存儲(chǔ)器件;鐵電材料的鐵電性可制作鐵電記憶存器。

本測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量,可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中,本測(cè)試系統(tǒng)主要由信號(hào)源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計(jì)算機(jī)通訊接口、計(jì)算機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。

模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度它不僅能畫(huà)出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,能夠較全面確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能,儀器采儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。

一、產(chǎn)品主要用途:

1、可廣泛應(yīng)用于薄膜、厚膜的鐵電材料性能測(cè)試和研究

2、可廣泛應(yīng)用于塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chǔ)器等鐵電材料領(lǐng)域的研究。

二、測(cè)試主要技術(shù)參數(shù):

1、電滯回線(包含飽和極化,剩余極化,漏電流等參數(shù))

2、鐵電材料疲勞測(cè)試,保持性能測(cè)試等

3、鐵電材料脈沖測(cè)試, 印跡等參數(shù)

4、應(yīng)變/位移曲線(蝴蝶曲線)

2、主要技術(shù)指標(biāo)

1)        輸出信號(hào)電壓:±10000V

2)        施加頻率:1Hz1000Hz

3)        波形:正弦波、三角波、方波

4)        USB示波器:4CH;70MHz

5)        絕緣電阻/漏電流測(cè)量:10TΩ/1pA,1000V

6)        電滯回線測(cè)試變溫范圍:RT~200

7)        變溫測(cè)量控制單元:精度0.1℃;功率:500W;接口:RS485

8)        測(cè)試采樣速度:<5/樣品•溫度點(diǎn)  

9)        樣品規(guī)格:陶瓷塊體:Φ10-100mm,厚度0.1~10mm

             薄膜樣品:Φ10-100mm,厚度1~100μm

10)    控制方式:計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算

11)    數(shù)據(jù)采集分析軟件:

a)        運(yùn)行環(huán)境 windows 7

b)        測(cè)量時(shí)實(shí)時(shí)顯示采集到的電滯回線,可定量得到鐵電材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,可選擇測(cè)量模式、掃描電場(chǎng)的幅值等;

c)        依據(jù)位移回歸法繪制樣品D33應(yīng)變/位移曲線(蝴蝶曲線)

d)        測(cè)量結(jié)果可以保存為數(shù)據(jù)文件供Origin等數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用處理,也可保存和打印微機(jī)屏幕顯示結(jié)果界面;

e)        具有數(shù)據(jù)平滑化電滯回線校正等數(shù)據(jù)處理功能。

                    


 

                                                      電滯回線(一)

 

 

 


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