国产精品成人网站,亚洲欧美精品在线,色一情一乱一伦,又大又紧又粉嫩18P少妇

熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測(cè)領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計(jì),光譜儀,以及紅外、激光探測(cè)器等方面。而熱釋電系數(shù)是測(cè)定紅外探測(cè)器工作特性的主要參數(shù)之...

TSDC-400W新款熱刺激電流測(cè)量?jī)x主要適用于在不同溫度下測(cè)試材料電阻的試驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng)，主要測(cè)試材料的電阻溫度變化關(guān)系用于測(cè)量聚合物的分子運(yùn)動(dòng)現(xiàn)象與極化電流的關(guān)...

TSC/TSDC-200型熱刺激電流測(cè)試儀通過(guò)對(duì)所獲得的電流-溫度譜的分析、計(jì)算，可得到捕獲空間電荷和取向偶極分子的束縛能級(jí)、活化能分布和儲(chǔ)存的電荷密度、脫阱電...

TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量（thermally stimulated depolarization currents, 簡(jiǎn)寫為TSDC或...

GLSR-1000型玻璃熔體電阻率試驗(yàn)儀是一款專用于玻璃熔體電阻測(cè)試的設(shè)備，采用自動(dòng)平衡技術(shù)，具有交流電壓輸出功能，頻率可調(diào)，可測(cè)試不同電流及頻率下的電阻率數(shù)據(jù)...

VRSRT-600型材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀高溫絕緣電阻率運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電...

TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x主要功能：1、不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等各種金屬材料及導(dǎo)電材料。產(chǎn)品主要特點(diǎn)：1、全信號(hào)控制系統(tǒng)，測(cè)試數(shù)據(jù)可以溯源2...

HTIM-300型高溫絕緣電阻測(cè)試儀是一款集絕緣電阻測(cè)試儀、皮安計(jì)、數(shù)字電位計(jì)、數(shù)字高壓源表四合一的專業(yè)儀器。本儀器可輸出0.5V-1000V之間任意電壓，滿足...

HTIM-1600高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量，...

HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化，2000V，6.4ms的采...

BLDL-1000型高溫熔融玻璃電導(dǎo)率測(cè)試裝置是一款專門應(yīng)用于熔融玻璃電導(dǎo)率測(cè)量的，它是一種在高溫下測(cè)量玻璃熔體的電導(dǎo)率(電阻率）的裝置。熔體的電導(dǎo)率是用雙電極...

GDPT-600A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)是即可低溫測(cè)試D33系數(shù)，又可以高溫測(cè)試D33系數(shù)。主要是針對(duì)高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測(cè)試。

GDPT-900A型高溫壓電測(cè)試系統(tǒng)+ZJ-4型D33測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器，可以測(cè)量任意形狀的壓電陶瓷材...

CMFT-復(fù)合材料斷裂韌性殘余應(yīng)力檢測(cè)儀多不僅直接測(cè)試材料的表面測(cè)試，而且能在小尺度下直接測(cè)試、快速分析脆性材料和脆性涂層薄膜材料界面體系的斷裂韌性及殘余應(yīng)力；...

HTMS-1000型高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能的測(cè)試系統(tǒng)，產(chǎn)品應(yīng)用范圍廣,能夠滿足導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電玻璃材料、石...

SLR-400型雙面加熱高低溫冷熱臺(tái)具有獨(dú)立精密控溫，軟件操控，支持透、反功能，是一款多功能的雙面加熱冷熱臺(tái)裝置，適合科研的重要外環(huán)境裝置。

鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后...

機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)...

熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。包括：熱導(dǎo)率thermal conducti...

熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)...