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BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

參   考   價: 11111

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2024-07-15 09:57:42瀏覽次數(shù):1202次

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產(chǎn)地 國產(chǎn) 加工定制
適用領(lǐng)域 科研
BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀,熱電材料塞貝克系數(shù)測試儀

關(guān)鍵詞:熱電材料,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率, 電導(dǎo)率,V-1裝置

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀,熱電材料克系數(shù)測試儀

關(guān)鍵詞:熱電材料,Seebeck系數(shù),電阻率, 電導(dǎo)率,V-1裝置

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

產(chǎn)品介紹:

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的設(shè)備,是國家材料計劃中zui前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計出來的熱電材料測試儀,其測試性能遠(yuǎn)超越國內(nèi)外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內(nèi)高等院校和

研究所的重要設(shè)備。

對于熱電材料的研究,熱電性能測試是*的試驗數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點如下:

該裝置由溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式精確測定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

一、適用范圍:

1、測定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。

6、國內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域.

二、技術(shù)特點:

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題,靜態(tài)法測量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

  • 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。

·試樣采用*的焊偶機構(gòu),保證接觸電阻zui小以及測量結(jié)果的高重現(xiàn)性。

  • 每次可測試1-3個樣品.

  • 采用高級數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數(shù)和電阻率。


BKTEM-D1

BKTEM-D2

BKTEM-D3

測量溫度

室溫-600℃

室溫-600℃

室溫-600℃

同時測試樣品數(shù)量

1個

2個

3個

控溫精度

0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)

測量原理

塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

測量范圍

塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率

塞貝克系數(shù):10nV/K;電阻系數(shù): 10nOhm

測量精度

塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%

樣品尺寸

塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:50 nm

熱電偶導(dǎo)距

≥6 mm

 

0 to 160 mA

 

減壓He

加熱電極相數(shù)/電壓

單相,220V,

夾具接觸熱阻

≤0.05 m2K/W

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀



圖1 單一樣品測試系統(tǒng)原理示意圖


BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

圖2 雙樣品測試系統(tǒng)原理示意圖



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