HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：電導率，電阻率，高溫600℃，兩探針，四探針

    HTRC-600型高溫導電材料電阻率測試系統(tǒng)是一款專門用于測量材料電阻，電導率的設(shè)備，采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng)，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求，通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率，可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線． 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試，可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過*的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線。

一、主要應用范圍：

• 廣泛用于碳系導電材料的電阻率和電導率測量
• 金屬系導電材料的電阻率和電導率測量
• 金屬氧化物系導電材料的電阻率和電導率測量
• 高分子導電材料的電阻率和電導率測量
• 復合導電材料等材料的電阻率測量
• 可以測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率
• 符合標準：ASTM B193-02和GBT 6146-2010 、GBT15662-1995
• 產(chǎn)品主要特點：

• 高溫兩探針夾具與帶升降高溫測試平臺配合使用，組成高溫兩探針測試平臺；

2測溫熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，確保測量溫度與樣品溫度的*性；

• 采用緊湊型設(shè)計，體積小、結(jié)構(gòu)簡潔，操作簡單、方便；

• 隔熱盤隔離樣品平臺與調(diào)節(jié)平臺，并與高溫測試平臺重合，具有理想的隔熱保溫效果；

• 探針調(diào)節(jié)裝置具有三維精確調(diào)節(jié)功能，精確定位探針的位置；

• 探針調(diào)節(jié)裝置具有粗調(diào)功能，有效增大探針的調(diào)節(jié)范圍；

• 探針調(diào)節(jié)裝置帶探針壓力調(diào)節(jié)功能，確保探針與樣品的良好接觸，又不損傷樣品；

• 探針采用帶同軸屏蔽層設(shè)計，減少電磁對測量的干擾；

• 探針電極選用鉑銥合金，有效減少接觸電阻，并具有良好的高溫抗氧化能力；

10、自帶校準件，與各測試儀器配套，校準測試夾具。

主要技術(shù)參數(shù)：

1、測量溫度范圍：RT~600℃或RT~800℃或RT~1200℃可選

2、測試探針： 2個高溫高頻探針或4個高頻探針

3、電極直徑：26.8mm

4、樣品大小：厚度小于10 mm，直徑5~40mm

5、溫控方式：恒溫、變溫、常溫

6、控溫精度：±0.4℃

7、電阻率：10nΩ-10MΩ

8、電阻：10nΩ-100MΩ

9、電導率：10-5 ～105 s/cm

10、重量：38KG

11、工作溫度：5℃至40℃

12、重量：15KG

13、可以配合任意型號Agilent 、 WayneKer r 、 So lar tron 、 同惠、 Keysight

等LCR表進行無縫結(jié)合

14、設(shè)備可以配合ZJ-3型和ZJ-6型壓電測試儀進行壓電D33系數(shù)測量