電工電子產品環(huán)境試驗國家標準匯編-技術文章-杭州利輝環(huán)境檢測設備有限公司

電工電子產品環(huán)境試驗國家標準匯編

一、/T2423 有以下51個標準組成：

　　1 /T 2423.1-2001 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗A: 低溫

　　2 /T 2423.2-2001 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗B: 高溫
　　
　　3 /T 2423.3-1993 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

　　4 /T 2423.4-1993 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db: 交變濕熱試驗方法

　　5 /T 2423.5-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Ea和導則: 沖擊

　　6 /T 2423.6-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Eb和導則：碰撞

　　7 /T 2423.7-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Ec和導則: 傾跌與翻倒 (主要用于設備型樣品)

　　8 /T 2423.8-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Ed: 自由跌落

　　9 /T 2423.9-2001 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Cb: 設備用恒定濕熱

　　10 /T 2423.10-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Fc和導則: 振動(正弦)

　　11 /T 2423.11-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fd: 寬頻帶隨機振動--一般要求

　　12 /T 2423.12-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fda: 寬頻帶隨機振動--高再現性

　　13 /T 2423.13-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動中再現性

　　14 /T 2423.14-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動低再現性

　　15 /T 2423.15-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Ga和導則: 穩(wěn)態(tài)加速度

　　16 /T 2423.16-1999 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗J和導則: 長霉

　　17 /T 2423.17-1993 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka: 鹽霧試驗方法

　　18 /T 2423.18-2000 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗--試驗Kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)

　　19 /T 2423.19-1981 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kc: 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

　　20 /T 2423.20-1981 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法

　　21 /T 2423.21-1991 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 M: 低氣壓試驗方法

　　22 /T 2423.22-2002 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗N: 溫度變化

　　23 /T 2423.23-1995 電工電子產品環(huán)境試驗試驗Q:密封

　　24 /T 2423.24-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Sa: 模擬地面上的太陽輻射

　　25 /T 2423.25-1992 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗

　　26 /T 2423.26-1992 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM: 高溫／低氣壓綜合試驗

　　27 /T 2423.27-1981 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗方法

　　28 /T 2423.28-1982 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗T:錫焊試驗方法

　　29 /T 2423.29-1999 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗U:引出端及整體安裝件強度

　　30 /T 2423.30-1999 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬

　　31 /T 2423.31-1985 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法

　　32 /T 2423.32-1985 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗方法

　　33 /T 2423.33-1989 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法

　　34 /T 2423.34-1986 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AD: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗方法

　　35 /T 2423.35-1986 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法

　　36 /T 2423.36-1986 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法

　　37 /T 2423.37-1989 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 L: 砂塵試驗方法

　　38 /T 2423.38-1990 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗 R: 水試驗方法

　　39 /T 2423.39-1990 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ee: 彈跳試驗方法

　　40 /T 2423.40-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

　　41 /T 2423.41-1994 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程風壓試驗方法

　　42 /T 2423.42-1995 電工電子產品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

　　43 /T 2423.43-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法元件、設備和其他產品在沖擊(Ea) 、碰撞(Eb) 、振動(Fc和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ca)等動力學試驗中的安裝要求和導則

　　44 /T 2423.44-1995 電工電子產品環(huán)境試驗第二部分: 試驗方法試驗Eg: 撞擊彈簧錘

　　45 /T 2423.45-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/ABDM：氣候順序

　　46 /T 2423.46-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ef：撞擊擺錘

　　47 /T 2423.47-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fg: 聲振

　　48 /T 2423.48-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Ff: 振動--時間歷程法

　　49 /T 2423.49-1997 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Fe: 振動--正弦拍頻法

　　50 /T 2423.50-1999 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

　　51 /T 2423.51-2000 電工電子產品環(huán)境試驗第2部分: 試驗方法試驗Ke: 流動混合氣體腐蝕試驗

　　二、2421-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則

　　三、/T2422-1995 電工電子產品環(huán)境試驗術語

　　四、2424

　　1.2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗導則

　　2./T2424.2-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程濕熱試驗導則

　　3./T2424.9-90 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程長霉試驗導則

　　4./T2424.10-93 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程大氣腐蝕加速試驗的通用導則
　　
　　5./T2424.11-82 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和鏈接件的二氧化硫試驗導則

　　6./T2424.12-82 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程接觸點和連接件的硫化氫試驗導則

　　7./T2424.13-81 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度變化試驗導則

　　8./T2424.14-1995 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法太陽輻射試驗導則

　　9./T2424.15-92 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導則

　　10./T2424.17-1995 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程錫焊試驗導則

　　11./T2424.18-82 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程在清洗濟中浸漬試驗導則

　　12./T2424.19-84 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程模擬儲存影響的環(huán)境試驗導則

　　13./T2424.20-85 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗導則

　　14./T2424.21-85電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程潤濕稱量法可焊性試驗導則

　　15./T2424.22-86電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動（正玄）綜合試驗導則

　　16./T2424.23-90電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程水試驗導則

　　17./T2424.24-1995 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正玄）綜合試驗導則。

　　（信息來源：機械電子頻道子站）

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