1.系統(tǒng)介紹

       本系統(tǒng)按照翻轉(zhuǎn)電位差法測(cè)量裂紋原理設(shè)計(jì)，可測(cè)量3種試樣的裂紋（a/W）數(shù)據(jù)，分別是 CK 管狀試樣、CT 緊湊試樣，SEB 試樣。采用高精度儀表(Agilent)及控制系統(tǒng)(doli)?？稍诳諝庵?，腐蝕介質(zhì)，高低溫環(huán)境等不同的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試。

裂紋擴(kuò)展測(cè)量采集系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

相關(guān)的儀表或功能卡 

1.1 Agilent 34970A，數(shù)據(jù)采集通道掃描單元，配插入式 Agilent 34901A 20 通道多路轉(zhuǎn)換器模塊，插入34970A 后面板#100槽。 

1.2 Agilent 34420A，納伏表，用以采集小信號(hào)電壓，前面板#1通道接入待采集電位信號(hào)。 

1.3 Agilent 6611C，恒流源，提供高精度恒定驅(qū)動(dòng)電流； 

1.4 NI PCI-GPIB 488.2，通訊控制卡，插在計(jì)算機(jī) PCI槽中，驅(qū)動(dòng)程序 NI 488.2 V3.0.2 

2. 軟件介紹 

系統(tǒng)主界面

測(cè)試界面

2.1 支持功能導(dǎo)航，用戶依據(jù)導(dǎo)航界面進(jìn)入相應(yīng)的試驗(yàn)功能模塊；

2.2 支持?jǐn)U展試驗(yàn)功能，用戶可以自行追加試驗(yàn)項(xiàng)目；

2.3 支持 9 種不同的試驗(yàn)方式，1/2/4 種試樣不同組合測(cè)量；

2.4 支持同時(shí)測(cè)量 4 個(gè)試樣，分別計(jì)算測(cè)量顯示數(shù)據(jù)；

2.5 支持公制單位和英制單位；

2.6 支持前端電位測(cè)量，也支持參考電位測(cè)量；

2.7 支持實(shí)時(shí)采集并顯示電位數(shù)據(jù)、a/W，并計(jì)算電位采樣標(biāo)準(zhǔn)差；

2.8 支持實(shí)時(shí)繪制裂紋擴(kuò)展曲線；

2.9 支持試驗(yàn)過(guò)程中調(diào)整控制參數(shù)并即時(shí)應(yīng)用；

2.10 支持自動(dòng)和人工試驗(yàn)日志記錄；

2.11 支持試驗(yàn)終止后恢復(fù)功能；

2.12 支持掉電后試驗(yàn)恢復(fù)動(dòng)能；

2.13 支持采集數(shù)據(jù)掉電保留；

3.試驗(yàn)簡(jiǎn)介

3.1 試樣

3.2 采集儀表

3.2.1 Agilent 34970A，數(shù)據(jù)采集通道掃描單元，配插入式 Agilent 34901A 20 通道多路轉(zhuǎn)換器模塊，插入34970A 后面板#100槽。 

3.2.2 Agilent 34420A，納伏表，用以采集小信號(hào)電壓，前面板#1通道接入待采集電位信號(hào)。 

3.2.3 Agilent 6611C，恒流源，提供高精度恒定驅(qū)動(dòng)電流。

3.3 軟件試驗(yàn)界面

設(shè)置好參數(shù)后開(kāi)始采集，試驗(yàn)中有相關(guān)曲線查看，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存。