半導(dǎo)體高低溫沖擊測試箱/半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱特別適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導(dǎo)體電子器件材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)溫及溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在Z短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機(jī)帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃起移動的。

愛佩半導(dǎo)體高低溫沖擊測試箱/半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱質(zhì)量優(yōu)勢：主要核心配件均采用*的配件如法泰康或德比澤爾壓縮機(jī)，控制器有韓三元、日本OYO、中中國臺灣臺通三*供客戶選擇，繼電器有日本路宮、和泉、三菱、施耐德，美杜邦環(huán)保冷媒，丹麥(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，假罰十，能確保冷熱沖擊試驗箱長期正常的運行。

半導(dǎo)體器件（semiconductor device）通常，這些半導(dǎo)體材料是硅、鍺或砷化鎵，可用作整流器、振蕩器、發(fā)光器、放大器、測光器等器材。為了與集成電路相區(qū)別，有時也稱為分立器件。大部分二端器件（即晶體二管）的基本結(jié)構(gòu)是個PN結(jié)。利用不同的半導(dǎo)體材料、采用不同的工藝和幾何結(jié)構(gòu)，已研制出種類繁多、功能用途各異的多種晶體二，可用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、放大信 號和進(jìn)行能量轉(zhuǎn)換。晶體二管的頻率覆蓋范圍可從低頻、高頻、微波、毫米波、紅外直至光波。三端器件 般是有源器件，典型代表是各種晶體管（又稱晶體三管）。

半導(dǎo)體高低溫沖擊測試箱/半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)表：