UV754N紫外可見分光光度計(jì)

UV754N紫外可見分光光度計(jì)

特點(diǎn)：
◆具有全波段掃描、分波段掃描（759S型主機(jī)具備）、動(dòng)力學(xué)時(shí)間掃描、以及GOTOλ、線性回歸、濃度直讀、峰谷檢測等各種高功能。
◆采用熱敏繪圖儀，可進(jìn)行數(shù)據(jù)打印、光譜掃描（759S主機(jī)具備）、定波長時(shí)間掃描、線性回歸等曲線的繪制。
◆具有USB接口，可直接與PC機(jī)交互，強(qiáng)化了儀器的檢測數(shù)據(jù)、掃描圖譜等處理功能，實(shí)現(xiàn)了測試文檔的海量儲(chǔ)存。
◆斷電保護(hù)措施，可記憶測得數(shù)據(jù)、掃描圖譜、回歸方程以及儀器修正值等，并實(shí)現(xiàn)了開機(jī)初始化進(jìn)入測試狀態(tài)。
◆儀器操作簡便，用戶需對(duì)應(yīng)液晶顯示屏上的菜單進(jìn)行選項(xiàng)和確認(rèn)，即能達(dá)到所需的功能。

指標(biāo)；
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長大允許誤差：±2nm
● 波長重復(fù)性：≤1nm
● 透射比大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復(fù)性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光: 0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩(wěn)定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min  亮電流漂移：≤0.5(T)/3min