蘇州瑤佐機(jī)電有限公司，中國臺灣凱佳，中國臺灣KCL供應(yīng)商，KCL葉片泵DVQ20-14-F-R-BB-01中國臺灣凱佳油泵，主營產(chǎn)品：液壓元件，葉片泵，齒輪泵，柱塞泵，電磁閥，比例閥,磁性開關(guān)，接近開關(guān)，各類壓力控制閥，流量控制閥，方向控制閥，疊加閥，插裝閥，邏輯閥，多功能機(jī)復(fù)合閥……

*******************************************************************************

： 【蘇州瑤佐機(jī)電有限公司】

業(yè)務(wù)   【：黃俊杰 】 

*******************************************************************************　

KCL葉片泵DVQ20-14-F-R-BB-01中國臺灣凱佳油泵,HVQ20-14-F-R-AB-01，HVQ20-17-F-R-BB-01，HVQ20-19-F-R-AB-01，HVQ20-23-F-R-BB-01，DVQ20-6-F-R-AB-01，DVQ20-8-F-R-BB-01，DVQ20-11-F-R-AB-01，DVQ20-14-F-R-BB-01，DVQ20-17-F-R-AB-01，DVQ20-19-F-R-BB-01，DVQ20-23-F-R-AB-01，DVQ20-26-F-R-BB-01，DVQ20-32-F-R-AB-01，DVQ20-34-F-R-BB-01，DVQ20-38-F-R-AB-01，DVQ20-44-F-R-BB-01，DVQ25-18-F-R-BB-01，DVQ25-22-F-R-AB-01，DVQ25-26-F-R-BB-01，DVQ25-32-F-R-AB-01，DVQ25-38-F-R-BB-01，DVQ25-43-F-R-AB-01，DVQ25-47-F-R-BB-01，DVQ25-52-F-R-AB-01，DVQ25-60-F-R-BB-01，VQ15-6-F-R-BB-01，VQ15-8-F-R-AB-01，VQ15-11-F-R-BB-01，VQ15-14-F-R-BB-01，VQ15-17-F-R-AB-01，VQ15-19-F-R-BB-01，VQ15-23-F-R-AB-01，VQ15-26-F-R-BB-01，VQ15-31-F-R-AB-01，VQ15-38-F-R-BB-01，VQ20-6-F-R-AB-01，VQ20-8-F-R-BB-01，VQ20-11-F-R-BB-01，VQ20-14-F-R-AB-01，VQ20-17-F-R-BB-01，KCL葉片泵DVQ20-14-F-R-BB-01中國臺灣凱佳油泵

*******************************************************************************

： 【蘇州瑤佐機(jī)電有限公司】

業(yè)務(wù)   【：黃俊杰 】 

*******************************************************************************

KCL葉片泵DVQ20-14-F-R-BB-01中國臺灣凱佳油泵,論文摘要：介紹了涂層熱導(dǎo)率的測試方法。分別綜述了法、閃光法、光熱反射發(fā)、光聲法、3ω法以及它們的發(fā)展現(xiàn)狀及應(yīng)用前景。總結(jié)了當(dāng)前涂層熱導(dǎo)率的測試技術(shù)存在的一些問題，并且就其測試方法的發(fā)展方向進(jìn)行了展望。zui后提出，將獨立探頭與掃描熱顯微（SThM)技術(shù)相結(jié)合的3ω-SThM熱顯微測試系統(tǒng)，此技術(shù)是測量涂層熱導(dǎo)率的一種發(fā)展趨勢。論文關(guān)鍵詞：涂層,熱導(dǎo)率,測試方法引言在納米技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域，熱物性是納米材料的重要物性。微/納米尺度下材料的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率、比熱容等熱參數(shù)的測量及表征是研究微觀尺度聲子運動、熱輸運和缺陷等的重要手段。隨著薄膜材料厚度的不斷減小，其熱導(dǎo)率和熱擴(kuò)散率甚至其它熱參數(shù)也表現(xiàn)出了明顯的差異性，即具有明顯的尺度效應(yīng)。同時，隨著合成、微加工和分析等技術(shù)的不斷發(fā)展，人們需要表征幾微米至幾納米尺度的材料、結(jié)構(gòu)和器件的特征。比如，半導(dǎo)體量子結(jié)、超晶格材料、納米復(fù)合材料、納米厚度的多層涂層、微電子和光電子器件及MEMS傳感器等。隨著涂層厚度的不斷減小，薄膜法相和面向的熱導(dǎo)率也隨著不斷下降并表現(xiàn)出各向異性；對于激光晶體或微型傳感器表面的增透膜、高反膜等多層納米厚度的薄膜結(jié)構(gòu)，薄膜之間的界面接觸熱阻影響也隨著逐漸增大。因此，對于納米鍍層熱參數(shù)的測量具有重要的現(xiàn)實意義。迄今為止，已有幾種微納米材料的熱物理性質(zhì)的測試方法。測試熱導(dǎo)率和熱擴(kuò)散率主要有接觸式測量法和非接觸式測量法，如法、閃光法、光熱反射發(fā)、光聲法等。上述方法一般不能直接測試式樣的熱導(dǎo)率而是通過測試熱擴(kuò)散率，然后導(dǎo)出試樣的熱導(dǎo)率，因此，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度與熱容等的不確定度有很大的關(guān)系。而且，這些方法對于基體表面薄膜熱參數(shù)的測量限制也比較大。Lee和Cahill提出的3ω法是一種基于諧波探測技術(shù)的接觸式熱物性測量方法，在過去十幾年里國內(nèi)外的實驗研究已經(jīng)表明此方法可以有效用于微/納米尺度熱物性的測量。王照亮等拓展了3ω法的測試功能并將3ω法應(yīng)用于單層/多層納米薄膜、單根碳纖維、單根單壁碳納米管以及納米流體等的熱導(dǎo)率和熱擴(kuò)散率的測量。由于傳統(tǒng)的3ω法加熱膜要求具有一定的形狀和zui小尺度，限制了沿材料面向的空間分辨率，不能進(jìn)行多點測試。此外，金屬加熱膜與下部涂層之間存在的接觸熱阻是不可避免且是難以解決的問題。而現(xiàn)在將3ω量熱技術(shù)與掃描熱顯微鏡（SThM）技術(shù)相結(jié)合提出的3ω-SThM熱顯微測試系統(tǒng)，可以解決傳統(tǒng)的3ω法存在的一些不足，進(jìn)一步完善了3ω方法，也是測試熱導(dǎo)率方法的發(fā)展趨勢。本文分析了各種方法的測試原理，歸納其應(yīng)用范圍。特別分析了3ω量熱技術(shù)與掃描熱顯微鏡（SThM）技術(shù)相結(jié)合的3ω-SThM熱顯微測試系統(tǒng)測定納米涂層的熱導(dǎo)率的可能性。