一、靜態(tài)式三槽冷熱沖擊試驗(yàn)箱簡介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)待測試樣品的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨(dú)高溫或低溫使用。是在同一臺(tái)設(shè)備里同時(shí)做冷熱交替循環(huán)測試或恒溫試驗(yàn)。冷是指制冷,熱是指加熱,所有制冷設(shè)備均是采用進(jìn)口壓縮機(jī)作為冷凍系統(tǒng)的核心部件,在選材上始終以質(zhì)量高，耗電低，使用壽命長，運(yùn)行穩(wěn)定而立不敗之地。加熱則是采用鎳鉻合金加熱絲：（電熱絲的種類有鐵鉻鋁合金電熱絲和鎳鉻合金電熱絲。鎳鉻合金電熱絲的優(yōu)點(diǎn)是在高溫環(huán)境中的強(qiáng)度高，*高溫運(yùn)行不易變形，不易改變結(jié)構(gòu)，且鎳鉻合金電熱

二、靜態(tài)式三槽冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

三、冷熱沖擊試驗(yàn)箱??滿足標(biāo)準(zhǔn)：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

四、冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試條件（可設(shè)兩箱或三箱沖擊模式）：

• 三相沖擊模式：

高溫60℃～ 150℃，測試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

常溫沖擊5min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

• 兩箱沖擊模式

高溫60℃～ 150℃，測試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)

低溫 -10℃ ～ -65℃，測試時(shí)間30min~99h可任意調(diào)節(jié)