一、冷熱沖擊試驗箱簡介：
冷熱沖擊試驗機適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數等因素。
二、吊籃式冷熱沖擊試驗箱生產廠家技術參數：
型號 | BS-40H | BS-80H | BS-150H | BS-200H | BS-252H |
內箱尺寸W*H*D(mm) | 400*350*300 | 500*400*400 | 600*500*500 | 600*600*550 | 700*600*600 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 1100*1930*1450 | 1200*2000*1550 | 1300*1230*1670 | 1300*2500*1700 | 1400*2630*1750 |
重量(KG) | 500 | 700 | 900 | 1100 | 1300 |
溫度范圍 | （A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高溫區(qū)：+60℃-150℃ 低溫區(qū)：-10℃--65℃ ） |
升溫時間（蓄熱區(qū)） | RT-200℃約35min |
降溫時間（蓄冷區(qū)） | RT—70℃約55min |
溫度回復/切換時間 | ≤5min / ≤10sec以內 |
溫度精度/分布精度 | ±0.5℃ ±2.5% ℃ |
冷卻方式 | 風、水冷式/雙斷壓縮機 |
電源 | AC380V+±10%V 50HZ/60HZ |
三、冷熱沖擊試驗箱滿足執(zhí)行標準：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗
第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
四、吊籃式冷熱沖擊試驗箱生產廠家輔助結構：
密封：門與箱體之間采用雙層耐高溫高張性密封條以確保測試區(qū)的密閉
門把手：采用無反作用門把手，操作更簡便
樣品架移動方式：樣品架依靠安裝箱體底部的直線往復驅動系統(tǒng)作上下移動
腳輪：機器底部采用高品質可固定式PU活動輪
采用立式體、冷熱兩箱，采用提籃轉換試品所在實驗區(qū)域的方法，達到冷熱沖擊試驗目的；這種結構大限度減小了冷熱沖擊時的熱負荷，縮短了溫度回復時間，也是可靠、節(jié)能的一種冷熱沖擊的方式
