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雙棱鏡光干涉實(shí)驗(yàn)儀 光干涉實(shí)驗(yàn)儀 型號:HAD-SGS-II
1826年法國科學(xué)家菲涅耳(Fresnel)用雙棱鏡將一束相干光的波前分成兩部分,形成分波面干涉,利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級)。此光干涉實(shí)驗(yàn)的物理思想、實(shí)驗(yàn)方法與測量技巧,具有很深的教學(xué)價(jià)值。
儀器特點(diǎn):
● 導(dǎo)軌和轉(zhuǎn)盤采用高強(qiáng)度鋁合金材料、燕尾槽結(jié)構(gòu)、轉(zhuǎn)盤靈活、不會生銹、經(jīng)久耐用。
技術(shù)參數(shù):
● 導(dǎo)軌:長80.0cm,分度值1mm;
● 滑塊5只,其中1個(gè)滑塊上帶轉(zhuǎn)動裝置;
● 帶轉(zhuǎn)盤的狹縫,縫寬0.03-0.04mm;
● 測微目鏡和支架,測微目鏡量程0-8mm,分度值0.01mm;
● 光源:半導(dǎo)體激光器,光波長650.0nm,工作電壓直流3V。
實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:
● 觀察雙棱鏡的干涉現(xiàn)象;
● 測量激光器的波長。
(注:鈉光燈及電源選配)。
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