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美國(guó)Qualitest泄漏測(cè)試儀
Qualitest自成立以來(lái)一直致力于儀器設(shè)備的開(kāi)發(fā)生產(chǎn),包括分光光度計(jì)、光譜儀、電子高度計(jì)等產(chǎn)品設(shè)備,可以提供*的產(chǎn)品和技術(shù),滿足客戶在現(xiàn)代材料測(cè)試領(lǐng)域的要求。Qualitest將繼續(xù)不斷研究創(chuàng)新,為客戶提供合適的產(chǎn)品及解決方案。
產(chǎn)品范圍:
美國(guó)Qualitest分光光度計(jì)、光譜儀、電子高度計(jì)、超聲波測(cè)厚儀、硬度計(jì)、便攜式硬度計(jì)、數(shù)字測(cè)力計(jì)、數(shù)字快速計(jì)、沖擊試驗(yàn)機(jī)、扭矩測(cè)試儀、泄漏測(cè)試儀、密度計(jì)、色度計(jì)、霧化測(cè)試儀、拉伸試驗(yàn)機(jī)、硬度測(cè)試儀、金屬分析儀、光學(xué)分選機(jī)。
主要型號(hào):
QM-Series、HW Series、MT-Series、ESM 303、QT-ETT、QT-LT-V、QT-LT-P、QualiX-2000、QualiX-S Plus、QualiX-T1、QualiX-G1、QualiX-G2、QualiX-G3、QualiX-R1、QualiX-P1、QualiX-S2、QualiX-M1、QualiX-S1
相關(guān)產(chǎn)品介紹:
泄漏測(cè)試儀 - QT-LT-V
泄漏測(cè)試儀 - QT-LT-V用于測(cè)試包裝袋,瓶子,罐子等的氣密密封質(zhì)量和性能。它還可用于在壓縮試驗(yàn),跌落試驗(yàn)和其他破壞性試驗(yàn)方法后測(cè)試試樣的密封性能。
特征:
-自動(dòng)程序控制測(cè)試;
-數(shù)字預(yù)設(shè)真空度和真空保持時(shí)間設(shè)計(jì),確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性;
-其自動(dòng)測(cè)試功能*控制測(cè)試參數(shù),如真空產(chǎn)生,自動(dòng)回吹,自動(dòng)停止和采集測(cè)試數(shù)據(jù),具有高精度和高精度;
-快速,簡(jiǎn)便,可控的操作。
技術(shù)規(guī)格:
-真空度:
0~-80 KPa
0~-95 KPa
-真空精度:
±1%
±1%
-真空時(shí)間
0.1~60分鐘
0.1s~10000分鐘
-空氣注入壓力:
0.7~0.8 MPa
0.7~0.8 MPa
-真空室尺寸(根據(jù)要求定制):
Ø270mm x 270 mm
Ø270mm x 270 mm
-尺寸:
300毫米x 430毫米x 500毫米
345毫米x 580毫米x 440毫米
相關(guān)產(chǎn)品
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