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為什么要基于過飽和度控制煮糖呢？

高質量糖的生產依賴于晶體生長，而過飽和正是促進晶體生長的原動力。結晶速度是多個參數的函數。過飽和度的定義為：母液的實際糖濃度與相同溫度下的飽和糖濃度的比值。

過飽和度有一個最佳范圍，在這個范圍內，糖晶體均勻而廣泛地生長，達到所需的晶體粒度。在此范圍之外，晶體將停止生長，甚至可能自然熔化或開始形成新晶體，產生需要回溶再加工的粉晶和黏晶。這會帶來重大影響，因為這種情形會導致時間和能源的浪費、增加生產成本和水的消耗，并減少糖的有效產量。

為了制定能夠解決這些難題的基于過飽和度的控制解決方案，工廠為煮糖罐配備了維薩拉 K-PATENTS® SeedMaster SM-3 系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠為過飽和度計算提供實時數據。SeedMaster 專為糖結晶應用場景而設計。該系統(tǒng)由在線折光儀和多參數監(jiān)測設備組成，可提供糖結晶所需的參數，并能夠支持全自動控制解決方案的實施。