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雷達物位計由于測量精度高、耐高溫、高壓的能力強，以及采用非接觸的測量方式，成為過程控制物位監(jiān)測的*儀表，是近年逐步在現(xiàn)場應用的*測量技術。但在使用過程中也暴露出一些問題，主要是設計選型失誤。由于種類和品牌較多，如果在設計階段不能結合工況條件選擇適宜的產品，就可能造成雷達物位計無法正常使用。在選用物位儀表時，應區(qū)別不同介質工作條件及過程要求，選用成本低、精度高、價格適中、性能可靠的測量儀表。

1、介電常數的選擇

首先要確定被測介質的介電常數。雷達物位計是基于發(fā)射-反射-接受的過程來實現(xiàn)物位測量的。因此被測介質對雷達波的反射率是必須考慮的，而介質對雷達波的反射率跟介質的介電常數成正比。目前，主流雷達物位計要求的*低介電常數約為1.5，介電常數低于1.5的介質不應選用雷達物位計。對于一些剛過臨界點的介質，比如一些液化石油氣的介電常數約為1.6左右，這種臨界情況下，如果選用非接觸式雷達物位計，一般采用增加一根導波管的方案，增強雷達波回波信號，即可滿足測量要求。低介電常數和變介電常數的被測介質，*導波雷達。低介電常數液體介質反射信號弱，信號衰減嚴重，物位波動和泡沫散射引起信號減弱，罐內障礙物反射引起虛假信號，為此就需要發(fā)射較強的電磁波信號，并采用功能強的微處理器進行復雜的信號處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達物位計價格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測量問題。導波雷達和常規(guī)雷達一樣，采用傳輸時間來測量介質物位，信號自烴類[介電常數2~3]液體表面或自水[介電常數80]面反射回傳的時間一樣的，不同的只是信號幅度（強度）的差別。普通雷達必須考慮介質的影響，比較難辯識返回的各種信號，從雜散信號中檢出真正的物位信號，而導波雷達僅需測量電磁波的傳輸時間即可，無需信號的處理和辨別。電磁波可以穿透空間蒸汽、粉塵等干擾源，遇到障礙物易于被反射，被測介質導電性越好或介電常數越大，回波信號的反射效果越好。

2、量程的合理選擇

在選用雷達物位計時，往往有一種錯誤看法，認為選用的量程只要大于槽罐的高度就行。事實上，雷達物位計上標識的量程可能是它的*量程，選型時還要看容器的特性，如貯罐表面平穩(wěn)還是有波紋，甚至有攪拌。同一型號的雷達料位計在不同情況下所能測量的實際料位有很大差別。某型號雷達，量程是20m，只是表面平穩(wěn)液體可以測量20m，如用在無攪拌有波紋的緩沖罐上，就只能測量10m。用其測量十幾米的帶有攪拌的料位時，經常測量不到低料位，這實際是選型量程不夠，增加量程后問題得到解決。

上海自動化儀表采用國際*技術，結合市場需求，相繼研發(fā)出6.3G雷達物位計、導波雷達物位計、26G高頻雷達物位計、26G高頻雷達水位計、物位開關等系列產品。產品廣泛服務于水處理、石油、化工、冶金、紡織、機械、供熱、供電、供水、科研、環(huán)境及環(huán)保工程等眾多行業(yè)。