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芯片設(shè)計者正開始在自己的復(fù)雜IC上設(shè)計測試與測量儀器。
在IC中設(shè)計測試儀器的潮流開始于CPU核心與總線的數(shù)字調(diào)試硬件。
現(xiàn)在,設(shè)計者也在高速I/O塊中建立分析儀器。
設(shè)計者正在高頻芯片的內(nèi)部作業(yè)中集成更復(fù)雜的模擬與RF測試儀器,如讀取通道IC。
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