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觸摸屏控制IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機產(chǎn)品用途:用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,柔性電子標簽等卡的彎曲和扭曲性能測試。
觸摸屏控制IC卡動態(tài)雙扭曲試驗機結構及功能:該設備采用彎曲和扭曲兩種模式,采用PLC控制,觸摸屏操作,試驗次數(shù)可設置,達到試驗次數(shù)自動停機,試驗結束后,檢查卡是否有可測試的功能。
本產(chǎn)品適用于軌道交通卡、銀行*、醫(yī)療保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列*的反復彎曲扭轉試驗,主要用于大專院校、科研單位、質量檢測中心、企業(yè)單位品質檢測部門、實驗室等*的物理力學性能、工藝性能的測試和分板研究,深受廣大用戶青睞。
本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 符合以上標準。
技術參數(shù):
1. 型號:HY-IC
2. 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°,總扭曲角度30°
4.測試周期:1~9999次
5.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電 壓:AC220V±5%
11.外形尺寸:L670 X W380 X H220
12.功 率:35W
13.儀器重量:70kg
標準雙向扭轉:
長邊彎曲工位數(shù):5工位
短邊彎曲工位數(shù):5工位
雙向扭轉工位數(shù):5工位
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