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1.為什么儀器有時(shí)測(cè)量不準(zhǔn)確?

　　這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問(wèn)題。因?yàn)榫蛢x器不準(zhǔn)的原因來(lái)說(shuō)是多種多樣的。單對(duì)涂層測(cè)厚儀來(lái)說(shuō)，主要有下面幾種原因引起測(cè)量不準(zhǔn)確。

　　（1）強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們?cè)鲞^(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)，當(dāng)儀器在1萬(wàn)V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。

　　（2）人為因素。這中情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。涂層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓阉D(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。

　　（3）在系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體?；wzui小平面為7mm，zui小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。

　　（4）附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)，選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。

　　（5）儀器發(fā)生故障。此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。

　　2.測(cè)量過(guò)程中，為什么有時(shí)候測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)出現(xiàn)明顯偏差?

　　測(cè)量過(guò)程當(dāng)中由于探頭放置方式不正確或者外界干擾因素的影響可能會(huì)造成測(cè)量數(shù)據(jù)明顯偏大。這時(shí)可以按住CAL鍵把該數(shù)據(jù)清除以免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)中去。

　　3.如何系統(tǒng)校準(zhǔn)?

　　校準(zhǔn)的方法、種類(lèi)，這是新用戶經(jīng)常會(huì)遇到的問(wèn)題。系統(tǒng)校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)還有兩點(diǎn)校準(zhǔn)其實(shí)都已經(jīng)在說(shuō)明書(shū)上寫(xiě)到了，用戶只需仔細(xì)閱讀就可以了。需要注意的是：在校準(zhǔn)鐵基時(shí)是多測(cè)量幾次以防止錯(cuò)誤操作;系統(tǒng)校準(zhǔn)的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標(biāo)準(zhǔn)片丟失可以找與其數(shù)值相近的樣片代替。

　　4.如何選擇合適的儀器型號(hào)?

　　選擇什么型號(hào)的儀器，要根據(jù)用戶測(cè)量物體的厚度來(lái)定。一般來(lái)說(shuō)測(cè)量1200um以下的物體時(shí)選擇MC-2000A型，對(duì) 0~1200um的厚度來(lái)說(shuō)該型號(hào)已經(jīng)達(dá)到2%~3%的度，而且對(duì)100um以下的厚度值它也能夠很好的確保測(cè)量精度。如果測(cè)量物體厚度在 1200~5000um，建議選擇MC-2000C型測(cè)厚儀。更厚的話就要選擇MC-2000D增強(qiáng)型測(cè)厚儀。

　　5.有時(shí)開(kāi)機(jī)出現(xiàn)干擾是什么原因?

　　開(kāi)機(jī)后儀器屏幕出現(xiàn)測(cè)量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測(cè)量，就說(shuō)明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:

　　（1）開(kāi)機(jī)時(shí)探頭離鐵基太近，因?yàn)殍F基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。

　　（2）沒(méi)插好探頭或者探頭線有損傷。

　　涂層和覆層測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)涂層覆層厚度測(cè)量有了明確的要求和規(guī)定。

　　涂層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法涂層測(cè)量，光截法涂層測(cè)量，電解法涂層測(cè)量，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法涂層測(cè)量，χ射線熒光法涂層測(cè)量，β射線反向散射法涂層測(cè)量，電容法涂層測(cè)量，磁性測(cè)量法和渦流測(cè)量法測(cè)量厚度等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)，采用磁性測(cè)量涂層的MC-2000系列和渦流法的MCW-2000B的涂層測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)1微米，精度可達(dá)1%，有了大幅度的提高。涂層測(cè)厚儀適用范圍廣、量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用zui廣泛的涂層測(cè)厚儀。

　　儀器的測(cè)量原理

　　一、磁吸引力測(cè)量原理及涂層測(cè)厚儀

　　*探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系。這個(gè)距離就是涂層的厚度。根據(jù)這一原理制成涂層測(cè)厚儀，只要涂層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大，就可進(jìn)行涂層測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用zui廣。涂層測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自動(dòng)停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸引力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源，測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn)，價(jià)格比較低，很適合車(chē)間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。

　　二、磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的原理

　　采用磁感應(yīng)原理測(cè)量涂層時(shí)，利用探頭經(jīng)過(guò)非鐵磁涂層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定涂層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻大小，來(lái)表示其涂層覆層厚度。涂層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)的涂層測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁涂層厚度。一般要求基體導(dǎo)磁率在500以上。如果涂層材料也有磁性，則要求與基體的導(dǎo)磁率之間的差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的探頭放在被測(cè)樣片上時(shí)，涂層測(cè)厚儀自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，涂層測(cè)厚儀將該信號(hào)放大后來(lái)指示涂層厚度。近幾年來(lái)采用了專(zhuān)業(yè)設(shè)計(jì)的集成電路，引入單片微機(jī)，增加*的工具，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高。磁性原理涂層測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠涂層，以及化工石油業(yè)的各種防腐涂層的厚度。

　　三、電渦流測(cè)量原理

　　高頻交流信號(hào)在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，探頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。探頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁颂筋^與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。由于這類(lèi)涂層測(cè)厚儀探頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基體上的涂層厚度，所以通常稱(chēng)為非磁性探頭。非磁性探頭采用高頻材料做線圈芯。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是涂層測(cè)厚儀探頭不同，信號(hào)頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。采用電渦流原理的涂層測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量涂層厚度較為合適。

　　影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量的若干因素。磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);每一種儀器都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;探頭會(huì)使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù);基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)，或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn);周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作;那些妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì)，必須清除，在測(cè)量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達(dá)到的測(cè)量。

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