国产精品成人网站,亚洲欧美精品在线,色一情一乱一伦,又大又紧又粉嫩18P少妇

類別

試驗(yàn)
項(xiàng)目

試驗(yàn)設(shè)備

試驗(yàn)條件

持續(xù)時(shí)間

樣品數(shù)量

測(cè)試部門

基礎(chǔ)參數(shù)

電流/功率/光通量/顯色指數(shù)/色溫/壓降和電流差/配光曲線  

電源
積分球
萬用表

室溫下，產(chǎn)品在標(biāo)配情況下點(diǎn)亮測(cè)試。
主要測(cè)試參數(shù)有：?jiǎn)蝹€(gè)成品的電流、功率、光通量、顯色指數(shù)、色溫、產(chǎn)品級(jí)聯(lián)后的的壓降和首尾電流差。產(chǎn)品配光曲線圖（必要時(shí)）

兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)級(jí)聯(lián)單位的成品

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

環(huán)境試驗(yàn)

溫度循環(huán)

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱

-40℃～25℃～100℃～25℃
30分鐘 5分鐘 30分鐘 5分鐘

循環(huán)100回合

5pcs/0.5m/<0.6m

冷熱沖擊

-40-70
15分鐘  15分鐘

循環(huán)150回合

5pcs/0.5m/<0.6m

高濕熱循環(huán)

30℃～65℃
RH=90%  24小時(shí)/1回合

72h

5pcs
0.5m/<0.6m

高溫存儲(chǔ)

Ta=80℃

168h

5pcs/0.5m/<0.6m

低溫存儲(chǔ)

Ta=-40℃

168h

5pcs/0.5m/<0.6m

高溫高濕存儲(chǔ)

Ta=70℃ RH=90%

168h

5pcs/0.5m/<0.6m

抗UV測(cè)試
BE-UV-8

紫外線燈箱

用強(qiáng)紫外線直接照射被測(cè)試件表面，加速表面的老化。試驗(yàn)后，要求成品各部件顏色不能出現(xiàn)明顯變色，材料不能出現(xiàn)機(jī)械損傷。

24h

5pcs/0.5m/<0.6m

壽命試驗(yàn)

常溫衰減壽測(cè)試

照度計(jì)/光電測(cè)試儀

Ta=25℃
標(biāo)準(zhǔn)配置、額定電壓下點(diǎn)亮
（注：此項(xiàng)目適用于中、小功率LED產(chǎn)品）

1000小時(shí)

3個(gè)成品單位

研發(fā)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室

高溫高濕壽命試驗(yàn)

照度計(jì)/光電測(cè)試儀/高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱/烤箱

Ta=70℃ RH=90%
標(biāo)準(zhǔn)配置、額定電壓下點(diǎn)亮

168小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

低溫壽命試驗(yàn)

Ta=-30℃
標(biāo)準(zhǔn)配置、額定電壓下點(diǎn)亮

168小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

規(guī)定焊點(diǎn)溫度下衰減測(cè)試

測(cè)試在焊點(diǎn)處溫度Ts=55℃/85℃/105℃時(shí)，成品在1000小時(shí)內(nèi)的衰減。要求每4天（96小時(shí)）測(cè)試一組數(shù)據(jù)，作出衰減曲線圖。（注：此項(xiàng)目適用于大功率LED產(chǎn)品，要求單獨(dú)出具報(bào)告）

1000小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

破壞性試驗(yàn)

通斷電測(cè)試

電源/時(shí)間繼電器

在額定電壓供電條件下，使電源輸出通斷電，導(dǎo)通時(shí)間3min，斷開時(shí)間0.5min。試驗(yàn)后，要求

24小時(shí)

3個(gè)成品單位

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

過壓/欠壓測(cè)試

電壓
萬用表

確認(rèn)產(chǎn)品的穩(wěn)定工作電壓，及電壓偏差±10%時(shí)

產(chǎn)品連續(xù)正常工作2h

3個(gè)成品單位

防水防塵測(cè)試
HE-SC系列

測(cè)試產(chǎn)品的IP等級(jí)。具體方法參見GB 4208-2008

3個(gè)成品單位

輸入/輸出短路測(cè)試

電源
 

確認(rèn)成品在額定輸入電壓下工作時(shí)，輸入/輸出端短路狀態(tài)（測(cè)試電源必須帶短路保護(hù)）

1分鐘

3個(gè)成品單位

導(dǎo)線連接處抗拉力測(cè)試

拉力計(jì)

用拉力計(jì)測(cè)試導(dǎo)線與產(chǎn)品連接處的抗拉力值。
燈帶：60N，持續(xù)1min；
模組：30N，持續(xù)1min；
試驗(yàn)后，要求導(dǎo)線與PCB/FPC連接處應(yīng)保證正常的機(jī)械、電氣連接；

5pcs/0.5m/<0.6m

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

彎折性試驗(yàn)

工裝治具

將產(chǎn)品纏繞直徑為2cm的治具上，點(diǎn)亮，觀察表面膠體有無斷裂、翹起等現(xiàn)象。（本項(xiàng)目針對(duì)灌膠類柔性燈帶產(chǎn)品。）

168h

3個(gè)成品單位

極性保護(hù)測(cè)試

電源

輸入端正負(fù)極接反或接入交流。

3-5次

3個(gè)成品單位

耐酸性試驗(yàn)

14*14*8cm密封測(cè)試盒

將成品樣板放入密閉試驗(yàn)盒內(nèi)，打成品四周打上玻璃膠。1分鐘內(nèi)密封好盒子。在室溫條件下存放24小時(shí)

24小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

鹽霧試驗(yàn)
HE-YW系列

鹽霧試驗(yàn)箱

濃度為：5±0.1%
（質(zhì)量百分比）

48小時(shí)

5pcs/0.5m/<0.6m

靜電放電試驗(yàn)

靜電放電發(fā)生器

4000-6000V

正負(fù)極性方向各3次

3個(gè)成品單位

應(yīng)用性測(cè)試

成品粘貼性測(cè)試

拉力計(jì)

將成品粘貼在樣品上，用拉力計(jì)從側(cè)面拉模組。記錄其zui大可承受拉力值。

48h

——

研發(fā)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室

排燈方案測(cè)試

在樣板字里進(jìn)行排燈測(cè)試，測(cè)試出無暗區(qū)、色斑時(shí)的zui大排燈距離。

——

認(rèn)證

在相關(guān)認(rèn)證機(jī)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試、認(rèn)證。（主要包括CE、UL、RoHS等，由產(chǎn)品策劃部與標(biāo)準(zhǔn)化中心界定認(rèn)證范圍）

3個(gè)成品單位

標(biāo)準(zhǔn)化中心

機(jī)械試驗(yàn)

振動(dòng)試驗(yàn)
HE-LD

機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

振動(dòng)頻率：10~55~10Hz
振動(dòng)方向：垂直、水平方向振動(dòng)
升降頻率時(shí)間：30秒

每個(gè)方向循環(huán)4次

3個(gè)包裝成品單位

質(zhì)保中心實(shí)驗(yàn)室

堆碼測(cè)試
HE-KY系列

堆碼測(cè)試機(jī)

 式中：M0-瓦楞紙箱上施加的堆碼中質(zhì)量，Kg
      M1-單件包裝毛重：Kg
      H-堆碼高度：m
      h-瓦楞紙箱刻度：m
      k-劣變系數(shù)（見注1）
H/h-取整數(shù)位 

根據(jù)計(jì)算數(shù)量要求

跌落試驗(yàn)
HE-LD

跌落試驗(yàn)臺(tái)

根據(jù)GB4857.5包裝件跌落測(cè)試方法，按照1角3邊6面的跌落順序進(jìn)行自由落體跌落，根據(jù)具體包裝方式，選擇靠近包裝箱重心位置的角作為跌落角，與跌落角連接的3條邊作為跌落邊。

跌落高度要求如下：

1天

3個(gè)包裝成品單位

存儲(chǔ)期

小于30天

30天-100天

100天以上

劣變系數(shù) k

1.6

1.65

2

項(xiàng)目

判定標(biāo)準(zhǔn)

備注

首尾電流差

設(shè)計(jì)電流±20%（保證首尾對(duì)比，無明顯顏色差異）

光強(qiáng)/光通量/照度

衰減≤50%，并且平均衰減≤30%

LED

無死燈、弱光、擊穿、頻閃、燈芯發(fā)黑；
硅膠開裂、翹起現(xiàn)象。

膠水

無破裂、翹起、斷裂、開縫、變色等現(xiàn)象

卡槽

無變形、變色、縮水、破損等現(xiàn)象

PCB/FPC

無斷裂、變形、翹曲破損等不良現(xiàn)象

線材

線皮無燃燒、氣泡、變形；線芯無發(fā)黑變色等現(xiàn)象。

振動(dòng)試驗(yàn)
堆碼試驗(yàn)
跌落試驗(yàn)

包裝無明顯破損，產(chǎn)品無死燈及明顯損壞現(xiàn)象。

研發(fā)階段

測(cè)試項(xiàng)目

手工樣品（HMS）

基礎(chǔ)參數(shù)測(cè)試

樣品（ES）

基礎(chǔ)參數(shù)、環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、破壞性試驗(yàn)測(cè)試、應(yīng)用測(cè)試

小批量試產(chǎn)（EP）

基礎(chǔ)參數(shù)、環(huán)境試驗(yàn)、破壞性試驗(yàn)測(cè)試、機(jī)械性測(cè)試