摘要描述：介電常數(shù)測(cè)定儀（介質(zhì)損耗測(cè)試儀）電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法1本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上...

摘要 描述：GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高頻 Q 表作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)高的160MHz。LJD-C高頻 Q 表采用了多項(xiàng)技術(shù)：雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能

摘要 描述：介電常數(shù)測(cè)定儀介質(zhì)損耗測(cè)試儀具有正/反接線，內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容，內(nèi)/外高壓多種工作模式，可做各種常規(guī)；介損試驗(yàn)，不需外接任何輔助設(shè)備；一體化設(shè)計(jì)，大屏幕背光 LCD 顯示，中文圖文菜單，緩速連續(xù)升壓，可迅速；

摘要描述：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀（GBT1410-2006）雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀自動(dòng)化測(cè)量技...

摘要 描述：絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀介電常數(shù)分析儀技術(shù)參數(shù)：1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 10KHZ-70MHZ2.信號(hào)源頻率精度310-5 1個(gè)字,6位有效數(shù)3．Q值測(cè)量范圍：1～1023

摘要 描述：絕緣材料工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀QS37型高壓電橋主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成，本電 橋特別適用測(cè)量各類絕緣油和絕緣材料的介損（tgδ）及介電常數(shù)（ε）。

摘要描述：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀生產(chǎn)廠家由S916測(cè)試裝置（夾具）、LJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入LJD-B或LJD-C的軟件模塊）、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM...

摘要 工頻介電常數(shù)測(cè)試儀（50HZ）

摘要 描述：工頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀QS37介電常數(shù)主要用于測(cè)量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。電橋由橋體、指另儀、跟蹤器組成，本電橋特別適用測(cè)量各類絕緣油和絕緣材料的介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）。

摘要描述：高頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 LJD-B/LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀能在較高的測(cè)試頻率條件下，測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗...

摘要 描述：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是我公司D家研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能

摘要 高低頻介電常數(shù)測(cè)試儀GCSTD-D性能特點(diǎn)■測(cè)試頻率20Hz～2MHz

摘要 有機(jī)硅介電常數(shù)測(cè)試儀平板電容器：極片尺寸：50mm/38mm可選極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

摘要 GCSTD-A/B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法一、概述介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷

摘要 GCSTD-A介電常數(shù)測(cè)試儀及介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法ASTMD150/IEC60250一、概述介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷

摘要一、 概述介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切 tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法， 并提供了，通用...

摘要 它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

摘要 它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求

摘要空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 ...

摘要空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測(cè)。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測(cè)量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 ...

摘要 介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

摘要 介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；

摘要Q 值測(cè)量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 固有誤差 ≤ 5 ％ 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差 ...

摘要介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)特性 Q 值測(cè)量范圍 2 ～ 1023 固有誤差 ≤ 5 ％ 工作誤差 ≤7％ 電感測(cè)量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測(cè)量范圍 1 ～ 200pF 主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ～ 220pF 主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 1 ...

摘要 介電常數(shù)測(cè)試儀

摘要 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

摘要介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀電感器：按測(cè)試頻率要求，需要配置不同量的電感器。例如：在1MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配250H電感器，在50MHz測(cè)試頻率時(shí)，要配0.1H電感器等。高頻介質(zhì)樣品（選購件）：在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x提供的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)...

摘要介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率測(cè)試儀的詳細(xì)描述：電： / 介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法概述A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區(qū)別 AC測(cè)試頻率范圍2...

摘要 工頻介電常數(shù)測(cè)試儀【專業(yè)】平板電容器極片用于夾持被測(cè)材料樣品，微測(cè)量裝置則顯示被測(cè)材料樣品的厚度。通過被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化的量化，測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。

摘要介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀裝置：2.3.1 平板電容器極片尺寸：:38mm和50mm二種.2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， 0.01mm2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm0.05 pF, 2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：12.5m...

摘要 橡膠塑料介電常數(shù)測(cè)試儀讀書清晰,無須換算,操作簡(jiǎn)便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器.

摘要塑料陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀 平板電容器極片尺寸：:38mm和50mm二種.2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， 0.01mm2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm0.05 pF, 2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：12.5mm（4.2pF）...

摘要介電常數(shù)測(cè)試儀 HZDC-202 介質(zhì)損耗測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)試儀適用于測(cè)定各種金屬氧化物、板材、瓷器（陶器）、云母、玻璃、塑料等絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1693-2007。自動(dòng)扣除殘余電感及測(cè)試引線電感。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置，直...

摘要 CDAT-A絕緣材料 塑料橡膠介電常數(shù) 介質(zhì)損耗測(cè)試儀

摘要 上海皆準(zhǔn) CDAT-A介電常數(shù)測(cè)試儀 絕緣材料 電瓷 電容器 GBT1409-2006

摘要 ZJD高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

摘要 絕緣材料塑膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

摘要 高壓電橋介電常數(shù)測(cè)試儀，內(nèi)部電阻及電容元件經(jīng)特殊老化處理，使儀器技術(shù)性能穩(wěn)定可靠。電橋采用接觸電阻小，機(jī)械壽命長(zhǎng)的十進(jìn)開關(guān)，保證測(cè)量的穩(wěn)定性。

摘要 橡膠塑料介電常數(shù)測(cè)試儀在不知道被測(cè)試品的大概容量及損耗時(shí)，可先施加少許的電壓，找到粗平衡點(diǎn)后，再把工作電壓升到所需的值，然后再尋找細(xì)平衡點(diǎn)。

摘要SWY2858介電常數(shù)測(cè)試儀由精密數(shù)字電橋、測(cè)試裝置，標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高低頻介質(zhì)損耗值(D或tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。SWY2858介電常數(shù)測(cè)試儀符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。SWY...

摘要SWY2855介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀由Q表、測(cè)試裝置，電感器及標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品組成，能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。SWY2855介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測(cè)試儀符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC602...

摘要 簡(jiǎn)要描述：低頻介電常數(shù)測(cè)試儀

摘要概述：產(chǎn)品詳情 測(cè)試頻率 6632-3/3G/3GS 10Hz ~ 3MHz 6632-5/5G/5GS 10Hz ~ 5MHz 66632-10/10G/10GS 10Hz ~ 10MHz 6632-20/20G/20GS 10Hz ~ 20MHz 6632-30/...

摘要WK6500B系列穩(wěn)科精密介電常數(shù)測(cè)試儀：1J6505B 20Hz~5MHz1J6510B 20Hz~10MHz1J6515B 20Hz~15MHz1J6520B 20Hz~20MHz1J6530B 20Hz~30MHz1J65...

摘要 介電常數(shù)測(cè)試儀簡(jiǎn)介:介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因