国产精品成人网站,亚洲欧美精品在线,色一情一乱一伦,又大又紧又粉嫩18P少妇

服務(wù)咨詢
儀表網(wǎng)>全部分類 >分析檢測 >其它通用分析儀器 >離子遷移譜儀 更新時間:2024-11-09 返回產(chǎn)品中心
離子遷移譜儀

IMS,是離子遷移譜(Ionmobilityspectroscopy)的簡稱,離子遷移譜(ionmobilityspectrometry,IMS)技術(shù)是從20世紀(jì)60年代末發(fā)展起來的一門檢測技術(shù),它...

查看詳情
精品推薦更多
品牌
更多
更多
1共1頁42條記錄
最新產(chǎn)品\ NEW PRODUCT
  • 導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置

    導(dǎo)通電阻試驗(yàn)裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
  • 離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置(CAF)

    離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
  • J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置

    J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
  • J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(C

    J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
  • J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(C

    J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測試,J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測系統(tǒng),并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被保存到CF存儲卡。作為系統(tǒng)構(gòu)成我們準(zhǔn)備了40CH/100CH型,可以根據(jù)您的預(yù)算、設(shè)置空間來進(jìn)行選擇。
  • 日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝

    日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF) CAF試驗(yàn)/CAF測試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
  • 離子遷移測試裝置(CAF)

    ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION )。
  • 3000V離子遷移試驗(yàn)裝置

    3000V離子遷移試驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。
    適用規(guī)格 : JPCA- - ET01-
  • J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(C

    J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置(CAF)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
  • 日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝

    日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置CAF測試是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗(yàn),絕緣阻力電阻試驗(yàn),或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn),我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。
查看更多
相關(guān)資訊\ Article
聯(lián)系我們

客服熱線: 15267989561

加盟熱線: 15267989561

媒體合作: 0571-87759945

投訴熱線: 0571-87759942

關(guān)注我們
  • 下載儀表站APP

  • Ybzhan手機(jī)版

  • Ybzhan公眾號

  • Ybzhan小程序

對比框

下載儀表站APP
讓生意變得更容易!儀表站APP
微信公眾號
T P PID CID TID SORT FldSort PriceStart PriceEnd PBID K JustPC PP 提交