摘要 浸漬真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 比重瓶真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 氣體置換真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 堆積真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 體積真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 表觀真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 真實(shí)密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要中圖儀器3d輪廓測(cè)量?jī)x針對(duì)完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求，SuperView W1的復(fù)合型EPSI重建算法，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下，只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn)，即可自動(dòng)掃描，重建其超...

摘要NS系列國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)粗糙度應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng)，其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求，能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽(yáng)能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制備等各行業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的工業(yè)企業(yè)與高校院所等科研單位，其對(duì)表面微觀形貌參數(shù)的準(zhǔn)確表征，對(duì)于相關(guān)材料...

摘要 SJ5800系列輪廓度儀器采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。

摘要中圖儀器國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀測(cè)試薄膜厚度配備了500W像素的彩色相機(jī)，可實(shí)時(shí)將探針掃描軌跡的形貌圖像傳輸?shù)杰浖酗@示，進(jìn)行即時(shí)的高精度定位測(cè)量。可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。臺(tái)階儀對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)...

摘要國(guó)產(chǎn)臺(tái)階儀品牌廠家中圖儀器的NS系列臺(tái)階儀，是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器，其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。臺(tái)階儀對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求，樣品適應(yīng)面廣，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測(cè)...

摘要SuperViewW1光學(xué)粗糙度輪廓儀可為樣品表面測(cè)量提供快速，便捷的非接觸式3D表面形貌測(cè)量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡(jiǎn)便，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。可以用于測(cè)試各類表面。比如透明的玻璃表面，加上增透膜，其反射率小于1%；也可...

摘要 中圖儀器NS系列臺(tái)階儀接觸式輪廓測(cè)量?jī)x主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求，樣品適應(yīng)面廣，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。

摘要中圖儀器SuperViewW1三維粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x以白光干涉技術(shù)為原理，結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等...

摘要中圖儀器SJ5800二維粗糙度輪廓測(cè)量?jī)x能實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析?？蓮V泛應(yīng)用于精密機(jī)械加工、汽車、軸承、機(jī)床、模具、精密五金等行業(yè), 對(duì)零件表面，尤其是大范圍曲面，如圓弧面和球面、異型曲面等進(jìn)行檢測(cè)，是大曲面測(cè)量（軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、...

摘要NS系列表面臺(tái)階輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器，其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。應(yīng)用場(chǎng)景適應(yīng)性強(qiáng)，其對(duì)被測(cè)樣品的反射率特性、材料種類及硬度等均無(wú)特殊要求，能夠廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、太陽(yáng)能光伏、光學(xué)加工、LED、MEMS器件、微納材料制...

摘要中圖儀器SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測(cè)。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到...

摘要SuperViewW1中圖3d輪廓測(cè)量?jī)x可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，除主要用于測(cè)量表面形貌或測(cè)量表面輪廓外，具有的測(cè)量晶圓翹曲度功能，非常適合晶圓，太陽(yáng)能電池和玻璃面板的翹曲度測(cè)量，...

摘要 聚乙烯真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 煤真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 漂珠真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 氦氣真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 固體真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 粉體真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要 全自動(dòng)真密度測(cè)試儀-密度是物質(zhì)的物理特性之一，不同物質(zhì)的密度一般不同，反映了不同物質(zhì)的不同性質(zhì)，因此，可以根據(jù)密度來(lái)鑒別物質(zhì)。密度不隨物質(zhì)形狀和空間地理位置的變化而變化，但因物質(zhì)的狀態(tài)、溫度、壓強(qiáng)的改變而改變。

摘要SuperViewW系列3D輪廓儀三維形貌儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量...

摘要中圖儀器NS系列臺(tái)階儀探針輪廓儀是一種接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器，可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。臺(tái)階儀對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求，樣品適應(yīng)面廣，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面...

摘要 SJ5700S大量程粗糙度輪廓儀采用高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)、高精度研磨導(dǎo)軌、高性能非接觸直線電機(jī)、音圈電機(jī)測(cè)力系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)各種工件表面輪廓進(jìn)行測(cè)量和分析。

摘要中圖儀器SuperViewW1三維自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理，可測(cè)各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等，提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計(jì)300余種2D、3D參...

摘要NS系列膜厚臺(tái)階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x器，其主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。儀器采用了線性可變差動(dòng)電容傳感器LVDC，具備超微力調(diào)節(jié)的能力和亞埃級(jí)的分辨率，同時(shí)，其集成了超低噪聲信號(hào)采集、超精細(xì)運(yùn)動(dòng)控制、標(biāo)定算法等核心技術(shù)，使得儀...

摘要 SJ5800接觸式二維輪廓測(cè)量?jī)x可以對(duì)零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實(shí)現(xiàn)一次掃描測(cè)量，尤其是大范圍曲面、斜面進(jìn)行粗糙度及輪廓尺寸一次性檢測(cè)，如圓弧面和球面、異型曲面進(jìn)行多種粗糙度參數(shù)（如Ra、Rz等）、微觀輪廓度Pt、波紋度參數(shù)的測(cè)量。

摘要 中圖儀器SuperViewW1光學(xué)3d輪廓測(cè)量?jī)x具有測(cè)量精度高、操作便捷、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)短，確保了高款率檢測(cè)。

摘要 中圖儀器NS系列接觸式臺(tái)階儀主要用于臺(tái)階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數(shù)的測(cè)量。它對(duì)測(cè)量工件的表面反光特性、材料種類、材料硬度都沒(méi)有特別要求，樣品適應(yīng)面廣，數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性高、測(cè)量穩(wěn)定、便捷、高效，是微觀表面測(cè)量中使用非常廣泛的微納樣品測(cè)量手段。

摘要 中圖儀器SJ5800系列二維輪廓儀能實(shí)現(xiàn)對(duì)軸承及工件表面粗糙度和輪廓的高精度測(cè)量和分析。它具有12mm~24mm的大量程粗糙度測(cè)量范圍，測(cè)試軸承內(nèi)外側(cè)?？蛇x軸承夾具和滾子分析，方便測(cè)試。

摘要 可靠性振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。

摘要 實(shí)用性振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。

摘要 快捷性振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。

摘要 無(wú)限制振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。

摘要 高嶺土振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。

摘要 碳酸鈣振實(shí)密度儀-粉體密度是指單位體積的粉體所對(duì)應(yīng)的質(zhì)量。由于粉體中顆粒與顆粒之間或顆粒內(nèi)部存在空隙（或孔隙），其粉體的密度通常小于所對(duì)應(yīng)物質(zhì)的真密度。振實(shí)密度是指將盛在容器中的粉體在規(guī)定的條件下被振實(shí)后的密度。

摘要 中圖儀器NS臺(tái)階儀探針式表面輪廓儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)。它可以對(duì)微米和納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測(cè)量。

摘要 中圖儀器SJ5800系列粗糙度輪廓儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、超高直線度研磨級(jí)摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)，分辨率高達(dá)0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。

摘要 NS200國(guó)產(chǎn)臺(tái)階形貌儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測(cè)量?jī)x，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級(jí)分辨率和超微測(cè)力等特點(diǎn)使得其在ITO導(dǎo)電薄膜厚度的測(cè)量上具有很強(qiáng)的優(yōu)勢(shì)。

摘要 法國(guó)Piezoconcept納米定位器C3.200適用于光纖對(duì)準(zhǔn)和激光寫(xiě)入C3三軸緊湊型納米定位器。是光纖對(duì)準(zhǔn)、雙光子聚合、激光寫(xiě)入等應(yīng)用的理想工具。