OSPrey800儀器利用光譜分析原理無(wú)損檢測(cè)OSP鍍層厚度。無(wú)需準(zhǔn)備樣品，可實(shí)時(shí)檢測(cè)實(shí)際產(chǎn)品上的

OSP鍍層厚度。

    OSPrey800儀器在檢測(cè)過(guò)程中不會(huì)對(duì)PCB/PWB板產(chǎn)生不利影響。通過(guò)進(jìn)行PCB/PWB上OSP鍍層厚

度的定量、完整性、可靠性及膜層形態(tài)的細(xì)致分析，進(jìn)而檢驗(yàn)OSP鍍層的應(yīng)用可靠性。

    檢測(cè)可在OSP鍍層的生命周期的不同階段進(jìn)行，使用戶(hù)可以通過(guò)監(jiān)控OSP鍍層形成和儲(chǔ)藏過(guò)程中產(chǎn)生

的不良變化對(duì)工藝進(jìn)行必要的調(diào)整。例如，可以在PCB/PWB生命周期的不同階段檢測(cè)OSP鍍層的厚度

以預(yù)測(cè)在后續(xù)的工藝過(guò)程中由于OSP鍍層的可焊性變化而對(duì)工藝產(chǎn)生的影響。

產(chǎn)品特色:

--無(wú)損實(shí)時(shí)檢測(cè)

--不再使用檢驗(yàn)銅箔，無(wú)需樣品制備

--超小檢測(cè)點(diǎn)

--二維圖象分析功能

--可在粗糙表面測(cè)量OSP鍍層厚度

--人性化操作流程設(shè)計(jì)

規(guī)格說(shuō)明:

--光源激發(fā)               420nm~665nm復(fù)合波長(zhǎng)光源，通過(guò)Ｖ型刻痕濾光片選擇特定波長(zhǎng)光學(xué)。

                             20倍光學(xué)變焦和成像系統(tǒng)

                             1/8英吋光纖

--檢測(cè)器                  CCD檢測(cè)器

--分析                     處理由OSP的膜厚反射而形成的反射光譜。

                             自行編程的編輯器來(lái)輸入需預(yù)先設(shè)定的參數(shù) 

--工作環(huán)境               10°C~ 40°C

                            --濕度:使用中置98%

--樣品臺(tái)                   XY軸固定樣品放置臺(tái)

                              Z軸自動(dòng)光學(xué)聚焦

--電源                      110-240VAC，50-60Hz，230W

                               Maximum Fuse Provide: 4A 250V

--儀器尺寸                操作臺(tái): 25 寬 x 30 長(zhǎng)x 46.5 高 (cm)

                              主控制器 : 27.5長(zhǎng)x20.7寬x14.5(cm)

--儀器重量                操作臺(tái): 6.6 kg (14.5 lbs)

                              主控制器: 5.7 kg (12.5 lbs)