鍍層測厚儀-MAXXI 6
鍍層測厚儀MAXXI 6提供高性能、快速可靠無損的鍍層厚度測量及材料分析,確保產品質量的*性和高品質。
1、高分辨率的硅漂移器(SDD)
2、開槽式超大樣品艙設計
3、8個準直器4、USB接口與計算機連接
我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術,該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用,可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。
鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準直器系統及超大樣品艙,針對較薄而復雜的樣品,具有*的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。