X-Strata920、980-臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀
利用X射線(xiàn)熒光(XRF)進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析,提高過(guò)程和質(zhì)量控制。X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺(tái)式X射線(xiàn)熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、無(wú)損的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。
X-Strata920、980-臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀
提供:
無(wú)損分析:無(wú)需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認(rèn)證的技術(shù)和可靠性,確保每年都帶來(lái)收益
操作簡(jiǎn)單,只需要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
分析只需三步驟
杰出的分析準(zhǔn)確性和精確性
在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有超過(guò)20年的豐富經(jīng)驗(yàn)
使用功能強(qiáng)大、操作簡(jiǎn)單的X射線(xiàn)熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量,保證質(zhì)量的同時(shí)降低成本。
鍍層測(cè)厚儀-X-Strata系列
X-Strata920 – 性?xún)r(jià)比高,無(wú)損可靠
一款操作簡(jiǎn)單的質(zhì)量控制分析儀,滿(mǎn)足鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
新型號(hào)設(shè)計(jì)
快速分析(幾秒)1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格,例如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)、加深樣品臺(tái)或自動(dòng)程控樣品臺(tái),滿(mǎn)足所有樣品類(lèi)型
開(kāi)槽式樣品艙可檢測(cè)大面積樣品,例如印制線(xiàn)路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測(cè)方法
X-Strata980 – 靈活、多元素、無(wú)損的材料分析