SE-VM光譜橢偏儀
E-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？蓪崿F(xiàn)科研/企業(yè)級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計。
概述SE-VM光譜橢偏儀
SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設(shè)計。
SE-VM光譜橢偏儀
高精度橢偏測量解決方案； 超高精度、快速無損測量； 支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)功能模塊靈活定制； 豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫，保證強大數(shù)據(jù)分析能力。 |
產(chǎn)品特點
采用高性能進口復(fù)合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm)；
高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制、PCRSA配置，實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集；
數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料；
產(chǎn)品應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應(yīng)用,實現(xiàn)光學(xué)薄膜、納米結(jié)構(gòu)的光學(xué)常數(shù)和幾何特征尺寸快速的表征分析。
武漢頤光科技有限公司（Wuhan Eoptics Technology Co,Ltd）是一家專業(yè)從事光學(xué)儀器設(shè)備研發(fā)及光機電產(chǎn)品制造、銷售的*。公司由一批歸國留學(xué)人員創(chuàng)辦，與華中科技大學(xué)緊密合作，現(xiàn)有員工80%以上擁有碩士或博士學(xué)位，是光學(xué)儀器設(shè)備領(lǐng)域技術(shù)優(yōu)勢的技術(shù)團隊。
頤光科技注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū)，立足光谷，面向，為用戶提供光學(xué)散射測量儀等系列產(chǎn)品，并提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導(dǎo)體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫(yī)藥、化學(xué)、電化學(xué)、光學(xué)鍍膜和保護膜、減反膜、光刻材料等眾多領(lǐng)域。
