測量厚度從1nm到10mm的*膜厚測量系統(tǒng)
F20薄膜厚度測量儀不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過率,F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過USB連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?;谀衬K化設(shè)計的特點,F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用:
• 測量厚度、折射率、反射率和穿透率:F20薄膜厚度測量儀
- 單層膜或多層膜疊加
- 單一膜層
- 液態(tài)膜或空氣層
• 不同條件下的測量,包括:
- 在平面或彎曲表面
- 光斑小可達(dá)20微米
- 桌面式、XY坐標(biāo)自動化膜厚測量,或在線配置
所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的和互聯(lián)網(wǎng)支持(24小時/每周5工作日)。這就是Filmetrics的優(yōu)勢!歡迎您試一試!
膜層范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。
這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料,例如:
SiNX | TiO2 | DLC |
光刻膠SU-8 | 聚合物 | 有機(jī)電致發(fā)光器AIQ材料 |
非晶硅 | ITO | 硒化銅銦鎵CIGS |
翌穎科技(上海)有限公司主要為半導(dǎo)體、新能源企業(yè)和高校及研發(fā)中心提供各類精密進(jìn)口制程及測量設(shè)備。提供全面的一對一*,技術(shù)支持,備件管理和咨詢服務(wù)。