WPA-200-XL應力測量儀
該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布?？蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂,量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為*的光學測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布?？蓽y數(shù)千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂,量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。WPA-200-XL應力測量儀
WPA-200-XL應力測量儀
主要特點：
- 操作簡單，測量速度可以快到3秒。
- 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
- 測量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。
- 具有多種分析功能和測量結果的比較。
- 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
主要應用:
- 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）
- 透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
- 高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）
- 透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
技術參數(shù):
項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（標準） |
7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制，CD模式 |
測量案例：
