CMI900 X射線熒光鍍層測厚儀
儀器介紹
CMI900熒光X射線鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,快速無損測量,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。
適用范圍
用于電子元器件,半導體,PCB,F(xiàn)PC,LED支架,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器,端子,衛(wèi)浴潔具,首飾飾品……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量;
測量鍍層,金屬涂層,薄膜的厚度或液體(鍍液的成分分析)組成。
主要特點
測量范圍寬,可檢測元素范圍:Ti22–U92;
可同時測定5層/15種元素/共存元素較正;
精度高、穩(wěn)定性好;
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能;
NIST認證的標準片;
服務及支持。