一次測量即可獲得M2和發(fā)散角，無需移動導軌，BeamWave光束質量分析儀，可測2~16um 

       普通的光束質量分析儀通常使用Shack-Hartmann探測器對波前能量進行測量取樣，其具有測量速度慢且分辨率低，測量M2時移動繁瑣等缺點。而法國BeamWave系列光束質量分析儀很好的克服了這些缺點，其采用了PhaseView公司*的波前傳感技術，CCD探測器和波前探測器只需一次成像就能瞬間采樣，得到光束質量（M²）的數據，整個過程無需移動任何導軌部件，且測量速度快、分辨率高。BeamWave革命性的舍去了傳統(tǒng)光束質量分析儀的復雜系統(tǒng)，沒有笨重的移動部件和多余的附件 ，單一設備即可實現分析測量M2因子、光束形貌參數、光斑傳播參數等所有的激光束參數。

       BeamWave系列光束質量分析儀采用的波前傳感技術，它的原理是在CCD探測過程中，入射激光光斑會被分成兩束激光，一快一慢分別先后的到達兩個CCD探測器陣面上，得到兩個光束圖像。通過對比分析這兩個圖像的波前能量強度分布和波前相位分布可以分析的出該光束的M2值、發(fā)散角、光束位置和其它傳播參數。

       法國PhaseView公司BeamWave光束質量分析儀以別具一格的光束質量M2測試技術而聞名，具有高分辨率、測量速度快、測量功能全面，無需繁瑣的導軌等優(yōu)點。它的通用性強，連續(xù)和脈沖光束都能測量且脈沖測量自動觸發(fā)，功能全面，十分適合用于激光分析、眼科儀器、科研級光學精密儀器的表面和波前測量等應用。

PhaseView光束質量分析儀的優(yōu)點：  

高分辨率光強和波前同步測量

連續(xù)和脈沖光束都能測量，脈沖測量自動觸發(fā) 

只需一臺BeamWave即可測量全部的光束參數 ，且價格相對優(yōu)惠， 結構簡單無需維護成本 

不需要復雜的移動導軌部件，瞬時單點M2測量，

1. 光束形貌參數：光束發(fā)散角，三維能量分布，光斑位置，腰斑大小，

2. 光束傳播參數：波前曲率半徑，波前能量、相位分布，銳利長度，腰斑大小和位置，等等    

3. M2因子

PhaseView光束質量分析儀型號參數：