美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS-3938
產(chǎn)品介紹:
TSI的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標準與技術(shù)研究所（-NIST）使用一個TSID Ma尺寸為60nm和100nm的標準尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個精確地粒徑檢測技術(shù)，沒有假設顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨立的顆?；蛄黧w的折射率，并具有高度的尺寸精度和測量重復性。
特點和優(yōu)點
◎高分辨率數(shù)據(jù)：多達167個通道;
◎廣泛的尺寸范圍：從2.5nm到1000nm;
◎ISO15900:2009兼容;
◎快速測量：＜10秒掃描;
◎?qū)挼臐舛确秶鷥?nèi)，107particles/cm3;
◎的靈活性組件的設計;
◎無需電腦的操作，觸摸屏控制;
◎易于安裝與不安裝工具和自動發(fā)現(xiàn)部件;
◎離散粒子測量：適用于多模樣本;
◎獨立的顆粒和流體的光學性質(zhì);
◎?qū)挿秶南到y(tǒng)的選擇：水或丁醇計數(shù)器供選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇。
