蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和方案。
蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡
具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和方案。
運用GeminiSEM系列產品，您可輕松獲取真實世界中任意樣品出色的圖像和可靠的分析結果
GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在較低的加速電壓下仍可呈現(xiàn)給您更強的信號和更豐富的細節(jié)信息，其創(chuàng)新設計的NanoVP可變壓力模式，甚至讓您在使用時擁有在高真空模式下工作的感覺;
GeminiSEM 450 具有出色的易用性設計、更快的響應和更高的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對樣品進行表面成像和分析，充當您的得力助手;
GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野，可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù)，使FESEM初學者也能快速掌握;
可選配的
項目
鏡筒內能量選擇背散射探測器 - 角度選擇背散射探測器 角度選擇背散射探測器 環(huán)形STEM探測器（aSTEM 4） EDS能譜儀 EBSD探測器(背散射電子衍射) NanoVP可變壓力模式 高效VPSE探測器（包含在NanoVP可變壓力選件中） 局部電荷中和器 可訂制特殊功能樣品臺 環(huán)形背散射電子探測器 陰極射線熒光探測器
