我們的單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號(hào)檢測(cè)方法對(duì)材料的功函數(shù)/費(fèi)米能級(jí)進(jìn)行非常高質(zhì)量的測(cè)量。單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)采用經(jīng)濟(jì)的配置使用戶能夠快速記錄非掃描數(shù)據(jù)，專用軟件允許對(duì)所有參數(shù)進(jìn)行全數(shù)字控制，以符合被調(diào)查樣品的準(zhǔn)確要求。記錄的數(shù)據(jù)很容易輸出到分析軟件。
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)KP020對(duì)于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測(cè)量的速率記錄工作功能，或者單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)將跟蹤數(shù)天內(nèi)緩慢的工作功能演變。單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)KP Mini系統(tǒng)提供了相同的功能，但在我們的300 x 300 mm光學(xué)外殼中，占地面積減少了55%。
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)應(yīng)用
有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術(shù)
太陽(yáng)能電池與有機(jī)光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統(tǒng)
相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境室
環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜（APS）
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜（400-1000nm）
表面光電壓（QTH或LED）
用開爾文探針測(cè)量功函數(shù)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)應(yīng)用
1-3mev的功函數(shù)分辨率
用于升級(jí)和附加組件的模塊化系統(tǒng)
經(jīng)濟(jì)、進(jìn)入系統(tǒng)
USB版本即插即用
非零信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)KP020對(duì)于快速事件可以以每分鐘超過300次工作功能測(cè)量的速率記錄工作功能，或者單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)將跟蹤數(shù)天內(nèi)緩慢的工作功能演變。單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)KP Mini系統(tǒng)提供了相同的功能，但在我們的300 x 300 mm光學(xué)外殼中，占地面積減少了55%。
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)應(yīng)用
有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
腐蝕與納米技術(shù)
太陽(yáng)能電池與有機(jī)光伏
附加組件
掃描開爾文探針系統(tǒng)
相對(duì)濕度控制和氮?dú)猸h(huán)境室
環(huán)境壓力光電發(fā)射光譜（APS）
樣品加熱器至250°C
表面光電壓譜（400-1000nm）
表面光電壓（QTH或LED）
用開爾文探針測(cè)量功函數(shù)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)應(yīng)用
1-3mev的功函數(shù)分辨率
用于升級(jí)和附加組件的模塊化系統(tǒng)
經(jīng)濟(jì)、進(jìn)入系統(tǒng)
USB版本即插即用
非零信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)
| KP020 | KP Mini | |
| Tip material/diameter | Standard 2 mm gold tip (other sizes and materials available on request) | |
| Work function resolution | 1 - 3 meV | |
| Probe translation | 25 mm manual translation | |
| Visualisation | Single-point work function/contact potential difference measurement | |
| Oscilloscope | Digital TFT oscilloscope for real time signal | |
| Test sample | Gold and aluminium test sample | |
| Control supplied | PC control with dedicated software for fill digital control of all parameters | |
| Height regulation | Through DC probe adjustments | |
| Detection system | Off-null with parasitic capacity rejection | |
| Faraday/optical enclosure | 450 mm x 450 mm | 300 mm x 300 mm |
| Optical system | Colour camera with zoom lens and monitor | |
| Warranty | Twelve months | |
單點(diǎn)開爾文探針系統(tǒng)
