Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD輝光放電質譜儀 (GD-MS)
存在于固體樣品中的幾乎所有元素都可進行常規(guī)檢測和定量：許多元素的含量低于十億分率 (ppb) 水平。
µs 脈沖式高流速輝光放電池
· 采用脈沖放電模式的高靈敏度離子源
· 廣泛可調的濺射速率適用于快速進行整體分析和高級深度剖析應用
· 使用二級電極進行氧化鋁粉末分析
雙聚焦質譜儀
· 高離子傳輸率和低背景使得信噪比可達亞 ppb 級檢測限
· 高質量分辨率可提供的選擇性和準確度：是的分析結果的先決條件
十二數(shù)量級的自動檢測系統(tǒng)
· 在一次分析中測定基體和超痕量元素，全自動檢測器涵蓋 12 數(shù)量級動態(tài)線性范圍
· 直接定量測定基體元素 IBR（離子束比率）
高效率和簡單易用的軟件包
· 所有參數(shù)均由計算機控制
· 全自動調諧、分析和數(shù)據(jù)評估
· 自動 LIMS 連接性
· 遠程控制和診斷
· Windows 7
· 樣品周轉時間通常少于 10 分鐘
· 能夠在一次分析中測定基體元素到超痕量元素
· 深度剖析涵蓋數(shù)百微米到一納米的層厚度
· 最小化基體效應，便于進行直接定量
推薦用途：
航空航天：鎳基高溫合金、復合材料、涂層和擴散層的深度剖析
微電子學：銅、鋁粉、濺射靶材
可再生能源：硅塊、晶片、太陽能電池
醫(yī)療/制藥/食品：不銹鋼、合金
1.20Thermo Scientific™ ELEMENT XR高分辨ICPMS
在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 擁有強大的技術水平。ICP-MS 最嚴重的限制是對元素信號的多原子干擾。高質量數(shù)分辨率是消除這些干擾的金標準，可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析，樣品制備步驟極為簡便。
多元素分析
· 多元素檢測器可處理瞬變信號，包括 HPLC、GC 和激光消融。
· 元素周期表中的無干擾測量涵蓋基質組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）。
· 靈敏度 ICP-MS（低分辨率時）。
靈活性和可用性
· 高質量數(shù)分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜
· 對無干擾或受干擾同位素進行高精度同位素比分析。
· 熱等離子體和冷等離子體狀態(tài)。
ELEMENT XR ICP-MS
寬線性動態(tài)檢測范圍對于 ICP-MS 來說至關重要，因為其允許通過單次運行分析較寬的濃度范圍。
集成式法拉第檢測器的特性：
· 采樣時間低至 1 ms。
· 測量高強度峰后無需衰減時間
· SEM 和法拉第之間自動切換，延遲時間為 <1 ms。
· 不同檢測器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個數(shù)量級），允許準確進行自動交叉校正。
· 動態(tài)范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。
