布魯克Dimension FastScan 原子力顯微鏡、
Dimension FastScan
世界上掃描速度的原子力顯微鏡掃描速度的全新詮釋，擁有的掃描分辨率，異的儀器檢測(cè)性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension Icon 超高的分辨率和的儀器性能前提下，限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
為滿足AFM使用者對(duì)提高AFM使用效率的需求，Bruker開(kāi)發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實(shí)現(xiàn)了利Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時(shí)快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí)，無(wú)論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
高效率
· 在空氣或液體中成像速度是原來(lái)速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié) 和檢測(cè)器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。
· 自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。
高分辨率
· Fastscan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時(shí)，延長(zhǎng)了探針的使用壽命。
· 掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。
· 低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平。
· 在任何樣品上均有表現(xiàn)
· 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實(shí)圖像。
· Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測(cè)量，保證高度從埃級(jí)到100多納米的樣品高精度無(wú)失真掃描。
Dimension Fastscan是一臺(tái)將掃描速度、分辨率、精確度和噪音控制結(jié)合的AFM，真正實(shí)現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應(yīng)用。為了實(shí)現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升，Bruker的工程師致力于AFM技術(shù)的改造和完善。
■采用熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù)，提高了系統(tǒng)的固有振動(dòng)頻率。
■應(yīng)用新的NanoScope控制器，為機(jī)器提供了更高的帶寬。
■開(kāi)發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的機(jī)械和電子的主要部件，結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術(shù)上獲得了重大突破。
■更高的帶寬提供了精確的力控制和高掃描速度，結(jié)合高精度的閉環(huán)控制，在效率上遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它任何商業(yè)化的AFM。
■以20Hz掃描速度進(jìn)行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會(huì)降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達(dá)到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向，探針在Contact模式中移動(dòng)速度可達(dá)到12mm/s，同時(shí)在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動(dòng)速度達(dá)到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了一臺(tái)快速掃描AFM。
■ 自動(dòng)的激光和檢測(cè)器的調(diào)節(jié)使得實(shí)驗(yàn)的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導(dǎo)航軟件MIRO，利用光學(xué)成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級(jí)的樣品特征。
的光學(xué)系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到激光信號(hào)調(diào)節(jié)。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與210mm大尺寸樣品臺(tái)結(jié)合，消除了樣品尺寸的限制，同時(shí)維持了的噪音和熱漂移水平。
AFM性能
Dimension FastScan AFM 優(yōu)秀的分辨率，與Bruker*的電子掃描計(jì)算方法相結(jié)合，提供給用戶顯著提升的測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension Icon是我們工業(yè)的針尖掃描技術(shù)的革新，配置了溫度補(bǔ)償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級(jí)范圍和XY軸埃級(jí)范圍的噪音水平，這個(gè)驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺(tái)，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開(kāi)環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當(dāng)今市場(chǎng)上任何一款大樣品臺(tái)AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針?biāo)惴ㄏ嘟Y(jié)合，即使是在難測(cè)量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
杰出的生產(chǎn)力
使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠(yuǎn)比其他大樣品臺(tái)原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過(guò)程研究中已成為一個(gè)標(biāo)志性的符號(hào)。FastScan把此平臺(tái)引入了更的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測(cè)量結(jié)果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過(guò)程比以往的AFM技術(shù)更加簡(jiǎn)便?？梢允钩鯇W(xué)者在操作中，同樣得到專家級(jí)的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無(wú)需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專業(yè)調(diào)整。Dimension FastScan的每個(gè)方面—從*開(kāi)放式針尖樣品空間，到預(yù)存軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無(wú)障礙操作和驚人的AFM操作簡(jiǎn)易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺(tái)，三者結(jié)合提供了的AFM儀器性能，保證您在最短時(shí)間內(nèi)得到測(cè)試結(jié)果并發(fā)表出版。
靈活的平臺(tái)
Dimension FastScan 展現(xiàn)出的的性能，堅(jiān)固性和靈活度，使得這臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測(cè)量。利用開(kāi)放式平臺(tái)，大型多元樣品支架和許多簡(jiǎn)單易用的性能，將AFM強(qiáng)大的功能*展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長(zhǎng)的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學(xué)、電學(xué)和電化學(xué)附件。
的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要
出眾的性能滿足各種應(yīng)用需求
Dimension FastScan可同時(shí)高速捕捉多個(gè)通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質(zhì)量數(shù)據(jù)。結(jié)合我們Bruker的很多AFM技術(shù)，模式和模式增強(qiáng)功能，Dimension FastScan以其*的性能優(yōu)勢(shì)，幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進(jìn)行納米力學(xué)成像。使用FastScan技術(shù)，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學(xué)圖譜的時(shí)間。
納米操縱 可實(shí)現(xiàn)在納米和分子級(jí)別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應(yīng)，大大提高了操縱的精確度。同時(shí)超低噪音的精密探針的準(zhǔn)確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。 加熱和冷卻 在以各種AFM 模式掃描的同時(shí)可實(shí)現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的精確控制和熱分析。另外還可使用熱探針對(duì)低于100nm的局部加熱到500℃。 電學(xué)表征 使用的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動(dòng)態(tài)范圍上實(shí)現(xiàn)電學(xué)表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了*的電學(xué)表征方法，同時(shí)還可以與樣品上的力學(xué)屬性相聯(lián)系。 |
利用最短時(shí)間獲得高質(zhì)量可發(fā)表數(shù)據(jù)結(jié)果
無(wú)論是作為科研交流還是發(fā)表科學(xué)文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得專業(yè)精確的數(shù)據(jù)測(cè)量和高質(zhì)量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運(yùn)用簡(jiǎn)易方法對(duì)大量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的處理分析。
樣品篩選
利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進(jìn)行樣品常規(guī)篩選。無(wú)論是材料生產(chǎn)中進(jìn)行失效分析或納米級(jí)的質(zhì)量控制，及時(shí)的產(chǎn)品信息反饋是的產(chǎn)品質(zhì)量控制過(guò)程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時(shí)，高精準(zhǔn)度成為條件。在獲取藥物配方的過(guò)程中需要大量的數(shù)據(jù)對(duì)其中的非晶藥物成分進(jìn)行篩選，這可能成為FastScan的一個(gè)新用途。
動(dòng)態(tài)應(yīng)用范例
另一種常見(jiàn)的應(yīng)用是觀察一個(gè)納米級(jí)物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時(shí)間產(chǎn)生變化的過(guò)程。無(wú)論是在空氣中還是在液體中，對(duì)納米尺度的動(dòng)態(tài)變化觀察都是研究?jī)r(jià)值的。Dimesion FastScan為這種實(shí)驗(yàn)提供了極為便利的條件。
