利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。X-Strata是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。它在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經行業(yè)認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
鍍層測厚儀-X-Strata系列
X-Strata920 – 性價比高，無損可靠
一款操作簡單的質量控制分析儀，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
新型號設計
快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度
多款規(guī)格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺，滿足所有樣品類型
開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等
符合ISO3487和ASTM B568檢測方法
X-Strata980 – 靈活、多元素、無損的材料分析
一款全面強大的X射線熒光分析儀，能夠檢測各種大小的樣品
快速、精確分析固體、液體和粉末
程控臺的大樣品艙方便樣品擺放和測量（可選）
集成電腦節(jié)省了臺式儀器的空間
高分辨率檢測器使檢測下限降到
應用廣泛，包括光電池、RoHS有害元素篩選和貴金屬分析
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
經濟、實用
平面樣品臺設計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
高度每英寸(25.4mm)可調，架構式樣品艙可容納高度6.3"(160mm)的樣品
可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
用于自動化測量
方便根據(jù)測試位置放置樣品，并精準定位測量點
開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板
樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)
